[發明專利]存儲器內建自測試方法無效
| 申請號： | 200810045810.3 | 申請日： | 2008-08-14 |
| 公開（公告）號： | CN101339811A | 公開（公告）日： | 2009-01-07 |
| 發明（設計）人： | 楊修;唐杜娟 | 申請（專利權）人： | 四川登巔微電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/12 | 分類號： | G11C29/12;G11C29/24 |
| 代理公司： | 成都天嘉專利事務所 | 代理人： | 方強 |
| 地址： | 610041四川省*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 存儲器 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1、存儲器內建自測試方法，其特征在于：首先判斷ROM中是否有冗余地址，當有冗余地址時用于存儲標準校驗碼，然后將ROM中的系數文件轉化成一定的格式，然后通過設計工具產生自測試邏輯和與ROM對應的標準校驗碼，最后將標準校驗碼寫入冗余地址并生成新的ROM。
2、根據權利要求1所述的存儲器內建自測試方法，其特征在于：所述一定的格式是轉化系數文件用的工具軟件需要的格式。
3、根據權利要求2所述的存儲器內建自測試方法，其特征在于：所述工具軟件轉化系數文件時，對只讀存儲器讀寫地址的控制描述屏蔽了存儲校驗碼所需冗余讀寫地址的定義，即在對只讀存儲器讀寫地址的控制描述中將最大地址設為只讀存儲器實際地址與存放標準校驗碼所占用的地址的差值。
4、根據權利要求1所述的存儲器內建自測試方法，其特征在于：所述自測試邏輯就是存儲器內建自測試算法電路。
5、根據權利要求1所述的存儲器內建自測試方法，其特征在于：所述生成新的ROM是通過存儲器產生工具重新生成的。
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