[發(fā)明專利]毫米波頻段準確測量波導寬邊縫隙導納的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810045752.4
• 申請日: 2008-08-07
• 公開（公告）號: CN101339213A
• 公開（公告）日: 2009-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅凡
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第十研究所
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，包括下列步驟：測試過程中，建立一個由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和計算機組成的測試平臺；將連接于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀雙端口的兩個傳輸線校準件L1、L2和一個反射校準件R，其中L1和R做成與被測件長度一致，L2做成與被測件長度相差λ_g/4；并對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的雙端口進行LRL標準校準測試，測出被測校準件的S參數(shù)，并根據(jù)測得的校準件的S參數(shù)計算出使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試過程中存在的12項測試誤差；然后將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩個測試端口與待測的波導寬邊縫隙導納測試件相連接，測出被測測試件的S參數(shù)，由傳輸系數(shù)法通過上述計算機含有的數(shù)學軟件計算出波導寬邊縫隙的導納值

上述S參數(shù)是指將被測件等效為一個雙端口微波網(wǎng)絡(luò)的散射參數(shù)，λ_g是測試頻帶內(nèi)的中心頻率對應(yīng)的波導波長；LRL是兩個傳輸線校準件L1和L2、一個反射校準件R。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，被測件參數(shù)的測試數(shù)據(jù)通過GPIB接口傳輸?shù)接嬎銠C。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩根測試電纜分別與兩個同軸-波導轉(zhuǎn)換器相連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準時，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩根測試電纜分別與一個作為傳輸標準使用的波導兩端進行連接，波導長度與被測的導納測試件長度相同。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準時，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一根測試電纜與一個作為反射標準使用的終端短路的波導進行連接，波導長度與被測的導納測試件長度相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準時，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩根測試電纜分別與第二個作為傳輸標準使用的波導兩端相連接，波導長度與被測的導納測試件長度相差λ_g/4。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，根據(jù)三次校準后測得的S參數(shù)，以此計算出使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試過程中存在的12項測量誤差。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，完成校準測試后的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩根測試電纜與被測的波導寬邊縫隙導納測試件的兩端相連接，測量得到被測件的S₂₁參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的準確測量波導寬邊縫隙導納的方法，其特征在于，帶入LRL校準時測量得到的第一根傳輸波導的傳輸參數(shù)，通過數(shù)學分析軟件由傳輸系數(shù)法計算出縫隙的導納值。