[發(fā)明專利]單端口測試微波腔體濾波器無載Q值的測量方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810044358.9
• 申請日: 2008-05-07
• 公開（公告）號: CN101387667A
• 公開（公告）日: 2009-03-18
• 發(fā)明（設計）人: 唐波
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十研究所
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明是關于測試微波腔體濾波器無載Q值的測量方法，尤其是測試微波同軸腔體濾波器無載Q值的測量方法。

背景技術

現(xiàn)有技術中測試微波同軸腔體濾波器無載Q值測量方法，通常采用雙端口傳輸測試法。該測試法通過測試單個微波諧振器的傳輸參數(shù)，計算得出諧振器的無載Q值。從圖1微波諧振器雙端口傳輸測試無載Q值的測試框圖中，我們可以進一步了解雙端口傳輸測試法的基本原理和存在的不足之處。在圖2所示連接測試系統(tǒng)中，雙端口傳輸測試法主要是通過矢量網(wǎng)絡分析測試儀直接測試出諧振器的中心頻率和3dB帶寬，并根據(jù)下面的公式計算出諧振器的有載Q值：

QL=11Qe1+1Qu+1Qe2=f0Δf3dB---(1)]]>

式中：QL為諧振器的有載Q值

F0為諧振器的中心頻率

Δf_3dB為諧振器的3dB帶寬

再通過矢量網(wǎng)絡分析測試儀測量出諧振器1中心頻率處的插入損耗，由下式計算出諧振器的外部Q值：

Lf0=101gQe1Qe24QL2---(2)]]>

式中：L_f0為諧振器中心頻率的插入損耗

Q_e1和Q_e2為諧振器兩個端口的外部Q值

Q_L為諧振器的有載Q值

在已知Q_e1、Q_e2和QL后，由(1)式計算出諧振器的無載Q值Qu。計算Qu時，可假設諧振器兩個端口的外部Q值完全一樣。端口的外部Q值完全由圖1耦合環(huán)2的物理結構確定。由于加工中，很難甚至無法將兩個耦合環(huán)做成精度一模一樣，因此很難也無法保證兩個端口的外部Q值完全一致。這種在外部Q值不完全一致的情況下，測量出的無載Q值的測量精度不高，只具有一定的近似值。