[發(fā)明專利]熒光硅膠粒子及其用途

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810042028.6
• 申請(qǐng)日: 2008-08-25
• 公開（公告）號(hào): CN101343538A
• 公開（公告）日: 2009-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱維平;錢旭紅;何春生;徐玉芳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華東理工大學(xué)
• 主分類號(hào): C09K11/06
• 分類號(hào): C09K11/06;G01N21/64
• 代理公司: 上海順華專利代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 陳淑章

1.一種熒光硅膠粒子在痕量汞離子(II)的檢測(cè)和分離中的應(yīng)用；

其中：所說的熒光硅膠粒子由式I或式II所示化合物通過“共價(jià)嫁接”至納米級(jí)二氧化硅粒子表面而得到；

2.如權(quán)利要求1所述的應(yīng)用，其特征在于，其中所說的納米級(jí)二氧化硅粒子在被“共價(jià)嫁接”前需在100℃～150℃及真空條件下，靜置12-24小時(shí)。

3.如權(quán)利要求1或2所述的應(yīng)用，其特征在于，其中所說的納米級(jí)二氧化硅粒子的粒徑為20nm～50nm，羥基含量為0.1mmol/g～0.5mmol/g。