[發(fā)明專利]電子天平量程校準(zhǔn)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810041549.X | 申請(qǐng)日: | 2008-08-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101650215A | 公開(公告)日: | 2010-02-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫衛(wèi)祥;J-C·埃默里;王長(zhǎng)林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 梅特勒-托利多儀器(上海)有限公司;奧豪斯儀器(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01G23/01 | 分類號(hào): | G01G23/01 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 陳 亮 |
| 地址: | 20023*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子天平 量程 校準(zhǔn) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子天平的校準(zhǔn),尤其涉及用于電子天平量程校準(zhǔn)及零點(diǎn)漂移修正的電子天平量程校準(zhǔn)方法。?
背景技術(shù)
由于電子天平(如電磁力補(bǔ)償式、電阻應(yīng)變片式、振弦式等電子天平)是由若干個(gè)不同零件組裝而成,因此,隨著溫度的變化、長(zhǎng)時(shí)間的操作,電子天平的零點(diǎn)及量程通常會(huì)發(fā)生變化,導(dǎo)致稱量結(jié)果不夠準(zhǔn)確。有時(shí)隨著稱量地點(diǎn)的變化,如從1樓到10樓或從上海到北京,量程也會(huì)發(fā)生變化。?
另一方面,歐洲、美國(guó)等對(duì)貿(mào)易天平的零點(diǎn)及量程漂移量有嚴(yán)格的要求,不能超過(guò)某一最大允許值。中國(guó)也將提高電子天平這一性能的要求。所以,零點(diǎn)、量程漂移較大的電子天平將無(wú)法進(jìn)入市場(chǎng)。?
為了解決量程漂移問(wèn)題,當(dāng)前電子天平都具有量程校準(zhǔn)功能,校準(zhǔn)方法為,以開機(jī)零點(diǎn)(開機(jī)時(shí)空稱盤的讀數(shù))為基準(zhǔn),稱量一次加載(滿載或半載或其他小于滿載的已知質(zhì)量),計(jì)算新的靈敏度系數(shù),更新天平中靈敏度系數(shù)。這種方法的不足之處在于,當(dāng)天平存在零點(diǎn)漂移時(shí),量程校準(zhǔn)后零點(diǎn)漂移依然存在,漂移量可能被放大或縮小(與靈敏度變化有關(guān))。這一現(xiàn)象是用戶不希望的,同時(shí)如果零點(diǎn)漂移值很大,可能無(wú)法滿足各國(guó)的標(biāo)準(zhǔn)要求。?
有的電子天平為了解決零點(diǎn)漂移問(wèn)題,在每次量程校準(zhǔn)之前強(qiáng)制用戶做清零操作。對(duì)用戶來(lái)說(shuō),這種做法不方便、不夠人性化。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種電子天平量程校準(zhǔn)方法,以同時(shí)解決量程漂移及零點(diǎn)漂移問(wèn)題。?
為此,本發(fā)明提出一種電子天平量程校準(zhǔn)方法,包括如下步驟:a)稱量并記錄電子天平第一次空載讀數(shù);b)稱量并記錄電子天平加載已知質(zhì)量砝碼的讀數(shù);c)稱量并記錄電子天平第二次空載讀數(shù);d)根據(jù)第一次、第二次空載讀數(shù)及加載讀數(shù)求解新的靈敏度系數(shù)及零點(diǎn)修正系數(shù);以及e)更新所述電子天平的靈敏度系數(shù)及零點(diǎn)修正系數(shù)。?
上述步驟a)中,當(dāng)?shù)谝豢蛰d讀數(shù)小于第一閾值時(shí),直接啟動(dòng)量程校準(zhǔn)程序,反之,要求用戶清空稱盤,直至空載讀數(shù)小于第一閾值。在步驟c)中,當(dāng)?shù)诙⒌谝豢蛰d讀數(shù)差異小于第二閾值時(shí),直接進(jìn)入步驟d),反之,要求用戶恢復(fù)第一空載時(shí)稱盤空載狀態(tài)(通常為清空稱盤),重讀第二空載數(shù)據(jù),直至兩次空載之差小于第二閾值,然后進(jìn)入步驟d)。為了降低空載稱量的隨機(jī)干擾,提高量程校準(zhǔn)精度,可以取兩次空載AD(模數(shù)轉(zhuǎn)換)值平均值作為實(shí)際空載AD值,用于計(jì)算靈敏度系數(shù)。?
在一個(gè)實(shí)施例中,步驟d)中根據(jù)第一、第二次空載讀數(shù)的平均值及加載讀數(shù)求解所述新的靈敏度系數(shù)。?
在一個(gè)實(shí)施例中,步驟d)中根據(jù)第二次空載讀數(shù)及加載讀數(shù)求解所述新的靈敏度系數(shù)。?
在一個(gè)實(shí)施例中,步驟d)中可以根據(jù)第一次空載讀數(shù)、第二次空載讀數(shù)或兩者平均值其中之一以及新的靈敏度系數(shù)求解新的零點(diǎn)修正系數(shù)。?
步驟b)中的加載通常使用接近滿載的標(biāo)準(zhǔn)砝碼,當(dāng)天平線性度很好時(shí),可以減輕加載砝碼的質(zhì)量。?
設(shè)電子天平第一次空載AD值為x01,加載已知質(zhì)量Ls的AD值為x1,卸載后第二次空載AD值為x02,則空載平均值為x0=(x01+x02)/2,電子天平新的靈敏度系數(shù)a1為?
a1=(Ls-0)/(x1-x0)=Ls/(x1-x0)?
于是,新的稱量讀數(shù)按如下公式計(jì)算?
L=a1*x+a0?
其中,a0=-a1*x02?
x為電子天平的AD值,L為顯示讀數(shù),a0為零點(diǎn)修正系數(shù),保證校準(zhǔn)后空載顯示為0。?
因此,本發(fā)明的電子天平量程校準(zhǔn)方法可以同時(shí)解決量程漂移及零點(diǎn)漂移問(wèn)題,并提高校準(zhǔn)精度。本方法同時(shí)適用于外校天平及內(nèi)校天平的量程校準(zhǔn)。?
附圖說(shuō)明
為讓本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作詳細(xì)說(shuō)明,其中:?
圖1為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的量程校準(zhǔn)方法流程圖。?
圖2為根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的量程校準(zhǔn)方法詳細(xì)執(zhí)行流程圖。?
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明:?
參照?qǐng)D1所示,首先,如步驟10,稱量并記錄電子天平第一次空載讀數(shù)。此空載讀數(shù)可以在電子天平校準(zhǔn)程序初始化后由電子天平自動(dòng)讀取。舉例來(lái)說(shuō),讀取的是電子天平第一次空載時(shí)AD(模數(shù)轉(zhuǎn)換)值x01。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于梅特勒-托利多儀器(上海)有限公司;奧豪斯儀器(上海)有限公司,未經(jīng)梅特勒-托利多儀器(上海)有限公司;奧豪斯儀器(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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