[發(fā)明專利]一種可再編程的激光熔絲器件和連續(xù)調(diào)整熔絲電阻的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810041395.4 | 申請日: | 2008-08-05 |
| 公開(公告)號: | CN101335258A | 公開(公告)日: | 2008-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張挺;宋志棠;劉波;封松林;陳邦明 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | H01L23/525 | 分類號: | H01L23/525;H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
| 地址: | 200050*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 編程 激光 器件 連續(xù) 調(diào)整 電阻 方法 | ||
1、用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于采用相變材料制作成熔絲,以替代金屬線作熔絲,利用激光對相變材料熔絲進(jìn)行編程。
2、按權(quán)利要求1所述的用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于所述的相變材料的相變是由結(jié)晶態(tài)到非晶態(tài)轉(zhuǎn)變或是由非晶態(tài)到結(jié)晶態(tài)的轉(zhuǎn)變。
3、按權(quán)利要求1所述的用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于所述的相變材料相變前后的材料的電阻率差異至少一個(gè)數(shù)量級。
4、按權(quán)利要求1、2或3所述的用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于所述的相變材料為具有相變能力的硅銻合金材料、鍺銻合金材料或鍺銻碲合金材料。
5、按權(quán)利要求1、2或3所述的用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于使用激光使作為熔絲的相變材料實(shí)現(xiàn)相變的。
6、按權(quán)利要求1所述的用于集成電路器件的可再編程激光熔絲器件,其特征在于所述的熔絲長度為5微米,寬度為2微米。
7、按權(quán)利要求1所述的可再編程激光熔絲器件的連續(xù)調(diào)整熔絲電阻的方法,其特征在于通過改變輻照激光信號的條件來實(shí)現(xiàn)的,也即通過編程激光的調(diào)節(jié),實(shí)現(xiàn)熔絲的部分晶化或部分非晶化的區(qū)域尺寸的改變,最終得到不同電阻值的熔絲點(diǎn)。
8、按權(quán)利要求7所述的可再編程激光熔絲器件的連續(xù)調(diào)整熔絲電阻的方法,其特征在于當(dāng)熔絲初始態(tài)為非晶態(tài)熔絲進(jìn)行加熱,使被加熱部分材料溫度升高到結(jié)晶溫度以上,被輻照部分的材料區(qū)域結(jié)晶形成結(jié)晶區(qū)域,調(diào)節(jié)單次編程激光在熔絲長度方向上的位移,進(jìn)行單次編程使結(jié)晶的區(qū)域的尺寸不斷變大,從而使電阻值變小。
9、按權(quán)利要求7或8所述的可再編程激光熔絲器件的連續(xù)調(diào)整熔絲電阻的方法,其特征在于編程的區(qū)域在于一對電極之間的熔絲。
10、按權(quán)利要求7或8所述的可再編程激光熔絲器件的連續(xù)調(diào)整熔絲電阻的方法,其特征在于通過改變激光束斑大小、單次編程的激光能量、輻照時(shí)間以及移動(dòng)的位置,能獲得熔絲的多個(gè)電阻狀態(tài)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810041395.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





