[發明專利]基于高頻超分辨率的低分辨率步態識別方法無效
| 申請號: | 200810039609.4 | 申請日: | 2008-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN101320423A | 公開(公告)日: | 2008-12-10 |
| 發明(設計)人: | 張軍平;程遠;陳昌由 | 申請(專利權)人: | 復旦大學 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 20043*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 高頻 分辨率 步態 識別 方法 | ||
1、一種基于高頻超分辨的低分辨率步態識別方法,其特征在于具體步驟如下:
(1)將步態幀圖像轉換為步態能量圖GEI,對這些步態能量圖進行下述處理;
(2)對訓練高分辨率圖像TRH進行如下處理:第一、進行s倍的子采樣,獲得低分辨率圖像TRL。第二、使用TRL進行擴大s倍的插值重構得到訓練高分辨率插值圖像TRHB;第三、計算殘差,得到TRH的訓練高分辨圖像的高頻部分TRHR;第四、對TRL進行b倍子采樣,得到訓練低分辨率子采樣圖像TRLL;第五、使用TRLL進行擴大b倍的插值重構,得到對TRL插值的估計訓練低分辨率殘差圖像TRLB;第六、計算殘差,得到TRL的高頻部分TRLR;
這里S取2、4或8,b取2n,n=1、2、3、4或5;
(3)將測試圖像TEL進行b倍子采樣,得到測試低分辨率子采樣圖像TELL,對其進行線性插值,并計算b倍殘差得到低分辨率測試圖像的高頻部分TELR;
(4)將訓練殘差圖像TRHR和TRLR對進行切割,將TRLR切成3×3的圖像塊TRLRp,將TRHR切成3s×3s的圖像塊TRHRp;形成多組TRLRpj和TRHRpj的圖像對;同樣對測試殘差圖像TELR進行切割,將TELR切成3×3的圖像塊TELRpi;
(5)通過線性鄰域插值尋找每個TELRpi在所有TRLRpj形成的空間中的鄰域嵌入,得到TELRpi的K個近鄰TRLRpij,和相應的嵌入權重Wij、j=1,2,...,K,i=TELR分割得到的圖像塊數,取4-10的整數;
(6)將K個近鄰TRLRpj所對應的TRHRpj乘以權值后形成對TELRpi所對應的高分辨率殘差塊的估計值TEHRpi:
將每個TELRpi進行這樣的處理之后就得到所有的TEHRpi,再將這些高分辨率殘差塊按順序拼在一起得到整個測試高分辨率殘差圖像的估計TEHR;
(7)使用TEL進行s倍的插值,得到TEHB,最終的對TEL對應的超分辨率處理結果是TEH=TEHB+TEHR;
(8)用最近鄰方法,使用超分辨率結果進行步態識別。
2、根據權利要求1所述的方法,其特征在于步驟(2)中所述的插值方法為下述之一種:雙線性插值、雙三次插值或最鄰近插值。
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