[發(fā)明專利]一種大場縱向表面磁光克爾效應(yīng)測量裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810036920.3
• 申請日: 2008-04-30
• 公開（公告）號: CN101271059A
• 公開（公告）日: 2008-09-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馬斌;顧培培;張宗芝;金慶原
• 申請（專利權(quán)）人: 復(fù)旦大學(xué)
• 主分類號: G01N21/21
• 分類號: G01N21/21;G01R33/14
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司
• 代理人: 陸飛;盛志范

1、一種大場縱向表面磁光克爾效應(yīng)測量裝置，其特征在于該裝置由電磁鐵、程控磁鐵電源、光路系統(tǒng)和PC機(jī)組成，所述光路系統(tǒng)如下：激光器(1)發(fā)出的激光經(jīng)過起偏棱鏡(2)，再經(jīng)過半透半反棱鏡(3)，激光被分成兩束，其中，一束作為參考光經(jīng)過檢偏棱鏡(4)，直接射入光電探測器(5)，信號接入PC機(jī)(15)；另一束透射光進(jìn)入凸透鏡(6)，凸透鏡(6)下面為樣品架(7)，透射光經(jīng)過樣品反射，經(jīng)過光闌(8)，再經(jīng)過另一檢偏棱鏡(9)、長焦距凸透鏡(10)，射入另一光電探測器(11)，然后采集信號送入PC機(jī)(15)，同時也送入數(shù)字電壓表(12)；凸透鏡(6)和樣品架(7)設(shè)置于電磁鐵13)中間，程控磁鐵電源(14)與電磁鐵(13)連接，并受PC機(jī)(15)控制，PC機(jī)(15)通過其操作控制系統(tǒng)接收光路信號，并控制程控磁鐵電源(14)。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的縱向表面磁光克爾效應(yīng)測量裝置，其特征在于所述電磁鐵為樣品提供的均勻磁場能超過10KOe，最大磁場為1.5--2.0特斯拉。

3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的縱向表面磁光克爾效應(yīng)測量裝置，其特征在于所述凸透鏡的直徑為25--60mm，焦距在25--60mm之間。