[發明專利]用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統

無效

• 申請號: 200810035415.7
• 申請日: 2008-03-31
• 公開（公告）號: CN101551423A
• 公開（公告）日: 2009-10-07
• 發明（設計）人: 李新育;李紅詞;陳冰;朱蘊
• 申請（專利權）人: 上海電氣自動化設計研究所有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R35/00
• 代理公司: 上海兆豐知識產權代理事務所
• 代理人: 章蔚強

1.用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，它包括DSP控制器、恒流源電路、熱電阻、熱電阻模擬電路、第一差分放大電路、第二差分放大電路和第三差分放大電路，所述的熱電阻和熱電阻模擬電路與所述的恒流源電路串聯，其中：

所述的恒流源電路從電源Vcc取得電能，并根據DSP控制器提供的給定電流數值，產生流過熱電阻和熱電阻模擬電路的相應恒定電流；

所述的熱電阻接收來自恒流源電路的輸出信號，并且輸出信號給熱電阻模擬電路，該熱電阻兩端并聯有所述的第一差分放大電路；

所述的熱電阻模擬電路根據DSP控制器提供的給定電阻值，模擬出相應的電阻R_S，該熱電阻模擬電路兩端并聯有所述的第二差分放大電路；

所述的第三差分放大電路的輸入端分別與所述的第一差分放大電路以及第二差分放大電路的輸出端相連；

所述的DSP控制器輸出給定電流值給恒流源電路，并且根據標準溫度輸出相應的電阻值給熱電阻模擬電路，該DSP控制器分別采集第一差分放大電路以及第三差分放大電路的輸出信號。

2.根據權利要求1所述的用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，所述的熱電阻為PT100熱電阻。

3.根據權利要求2所述的用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，所述的熱電阻模擬電路為與熱電阻對應的PT100熱電阻模擬電路。

4.根據權利要求1所述的用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，所述的熱電阻上下兩端形成的電壓為V₂，V₁，第一差分放大電路將熱電阻上的電壓進行放大，輸出電壓V_A＝K(V₂-V₁)，K為放大倍數，電壓V_A由DSP控制器進行采樣并且獲得相應的溫度T。

5.根據權利要求1或4所述的用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，所述的熱電阻模擬電路上下兩端形成的電壓為V₁，V₀，第二差分放大電路將熱電阻模擬電路上的電壓進行放大，輸出電壓V_B＝K(V_I-V_O)，K為放大倍數，第三差分放大電路的輸出電壓V_O＝V_A-V_B。

6.根據權利要求1所述的用于器件老化篩選車的熱電阻模擬校準系統，其特征在于，所述的DSP控制器采集第三差分放大電路的輸出信號V_O后，獲得對應的溫度T_Δ，實測溫度為T_O-T_Δ。