[發明專利]放電加工間隙的測量方法

無效

• 申請號: 200810034832.X
• 申請日: 2008-03-20
• 公開（公告）號: CN101249617A
• 公開（公告）日: 2008-08-27
• 發明（設計）人: 郭常寧;趙曉明;裴景玉;倪陽;王阿明
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: B23Q17/00
• 分類號: B23Q17/00;G01B5/16
• 代理公司: 上海交達專利事務所
• 代理人: 王錫麟;王桂忠

1、一種放電加工間隙的測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步，將工件安裝在機床工作臺上，并使工件平面與坐標XOY平行，然后利用機床接觸感知功能，使電極與工件沿Z軸方向接觸感知，設定此接觸點為基點；

第二步，使電極沿X或Y軸方向移動后，重新使電極和工件表面在Z軸方向接觸感知，記錄基點相對該接觸點的Z軸坐標差值Z₀，并將此點坐標設定為零X＝Y＝Z＝0；

第三步，設定沿Z軸加工，當加工即將結束，電極仍然處于一組放電過程中時，強制斷電，使電極停留在剛才的放電位置，記錄此時電極加工深度d₁，然后使電極沿Z軸抬刀即電極上升，直接對電極端面和工件加工表面進行清洗，清洗完畢后，利用機床的接觸感知功能，將電極沿Z軸方向下降到與加工表面接觸的位置，即測量出Z軸方向虛加工深度d₂；

第四步，上述過程完成后，將電極沿Z軸方向抬刀，再平移動到基點坐標位置X＝Y＝0處并沿Z軸與基點接觸感知，記錄此時Z軸坐標值與前次記錄的基點坐標值的差S，測量出加工后的電極沿Z軸方向的損耗量S-Z₀，由此得放電加工間隙為：d₂-d₁+S-Z₀。

2、根據權利要求1所述的放電加工間隙的測量方法，其特征是：第二步中，當基點比該接觸點坐標值大時Z₀取正，當基點比該接觸點坐標值小時Z₀取負。

3、根據權利要求1所述的放電加工間隙的測量方法，其特征是：第三步中，所述設定沿Z軸加工，其加工距離為0.5mm。

4、根據權利要求1所述的放電加工間隙的測量方法，其特征是：每一種加工條件進行多次加工實驗，將多次測量數據取平均值作為該種條件下放電加工間隙距離值。