[發明專利]液晶顯示裝置的陣列基板及其斷線修復方法

無效

• 申請號: 200810034506.9
• 申請日: 2008-03-12
• 公開（公告）號: CN101533188A
• 公開（公告）日: 2009-09-16
• 發明（設計）人: 馬群剛
• 申請（專利權）人: 上海廣電NEC液晶顯示器有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;H01L27/12;G02F1/13
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 薛 琦;朱水平

技術領域

本發明涉及一種液晶顯示裝置，特別是涉及一種液晶顯示裝置的陣列基板及其斷線修復方法。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)是以其輕薄、節能、環保等特點逐漸成為當前各類顯示器件發展的主流。

TFT-LCD中的陣列基板一側密布著許多數據線和柵極掃描線(可簡稱柵極線)，每一條數據線或者柵極掃描線的斷線都會使得TFT-LCD面板出現線缺陷，從而影響產品的合格率。一般而言，柵極掃描線比數據線要粗，并且柵極掃描線的根數也比數據線的根數要少。所以，雖然到目前為止提出了許多修復線的設計方法，但主要都是用來進行數據線在斷線后的修復，如專利US6111621、US6014191、US5969779、US5303074、CN1959961A都提供了數據線斷線的修復方法。總體而言，數據線的修復最多的方法就是采用專用的修復線和驅動電路，或者進行激光化學氣相沉積(Laser?CVD)成膜進行斷線兩側的連接。這些修復方法，大多需要用激光進行打點。

但是，上述數據線斷線的修復方法存在以下問題：

1、通過激光化學氣相沉積(Laser?CVD)法進行斷線修復的話，需要增加工程時間，影響產能。同時，Laser?CVD的投資也比較大。

2、如果用專門的修復線在放大驅動電路作用進行修復的話，能夠修復的斷線數目有限。并且，用于修復斷線的修復結構中需要在陣列基板的外側設計驅動放大電路，增加的設計開發的成本。如果在同一條數據線上出現兩個斷線就不能進行修復。

3、有些數據線的修復方法使用之后會在液晶面板的橫向出現一條淡淡的亮線，影響液晶面板的顯示品質。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中能夠修復的斷線數目有限、修復成本高、修復后產生亮線等的缺陷，提供一種液晶顯示裝置的陣列基板及其斷線修復方法，該液晶顯示裝置的陣列基板及其斷線修復方法可以對斷線進行完全修復，降低修復成本且不會在面板上出現橫向亮線。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題的：一種液晶顯示裝置的陣列基板，其包括多條數據線、柵極線和公共電極線，每兩條公共電極線形成一公共電極，由一公共電極、兩條相鄰的數據線和一條柵極線圍成的一像素單元。

本發明的另一技術方案是：一種液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括一陣列基板，該陣列基板包括多條數據線、柵極線和公共電極線，每兩條公共電極線形成一公共電極，由一公共電極、兩條相鄰的數據線和一條柵極線圍成的一像素單元，該液晶顯示裝置為扭曲向列型或者垂直取向型或面內切換型的液晶顯示裝置。

本發明的另一技術方案是：一種對液晶顯示裝置的陣列基板進行修復的方法，當數據線發生斷線時，該修復方法包括以下步驟：步驟1，進行第一次切斷操作切斷發生斷線的數據線外側的公共電極線；步驟2，進行第二次切斷操作切斷斷線對面的數據線內側的公共電極線；步驟3，進行第三次切斷操作切斷這兩條公共電極線的連接部分；步驟4，進行第四次切斷操作在與柵極線相連的地方切斷薄膜晶體管的柵電極；步驟5，在發生斷線的數據線和被切斷的公共電極線相交的地方進行第一次打點處理，使數據線和被切斷的公共電極線實現電連接，數據線電位傳輸到被切斷的公共電極線上；步驟6，在像素電極和被切斷的公共電極線相重疊的地方進行第二次打點處理，使被切斷的公共電極線和像素電極實現電連接；步驟7，在薄膜晶體管的漏電極和被切斷的柵電極相交重疊的地方進行第三次打點處理，像素電極上的電位通過接觸孔和第三次打點后把電位傳輸到被切斷的柵電極上；步驟8，在薄膜晶體管的源電極和被切斷的柵極相交重疊的地方進行第四次打點處理，像素電極上的電位通過接觸孔、第三和第四次打點處理后把電位傳輸到斷線下面的數據線上。

其中，該兩條數據線相互平行排列，該柵極線與兩條數據線垂直相交，該兩條公共電極線和柵極線平行且和數據線垂直相交。

其中，位于公共電極和像素電極重疊區域中的兩條公共電極線部分相互連接形成一條公共電極線。

其中，該像素單元包括一像素電極、一薄膜晶體管以及分別位于該像素電極與兩條數據線之間的兩條遮關條。

其中，該薄膜晶體管位于柵極線和數據線相交處，其包括與數據線連接的源電極、與柵極線連接的柵電極、通過一接觸孔與像素電極連接的一漏電極以及位于漏電極、源電極與柵電極之間的有源層。

其中，該第一至第四次切斷操作和該第一至第四次打點處理都是通過激光修復設備完成的。

本發明的積極進步效果在于：