[發明專利]高級加密標準的二維奇偶校驗檢錯方法及其實現硬件

無效

• 申請號: 200810034327.5
• 申請日: 2008-03-06
• 公開（公告）號: CN101242262A
• 公開（公告）日: 2008-08-13
• 發明（設計）人: 韓軍;趙佳;曾曉洋
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: H04L9/06
• 分類號: H04L9/06;G09C1/00;H03M13/11
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司
• 代理人: 陸飛;盛志范

1、一種高級加密標準的抗差錯攻擊的二維奇偶校驗檢錯方法，其特征在于同時在高級加密標準運算中的水平方向和垂直方向進行奇偶校驗；其中，水平方向奇偶校驗通過計算16個字節數據中的每個字節數據中的所有8比特的異或和，得到共16比特水平方向校驗位；垂直方向奇偶校驗通過計算所有16個字節數據的異或和，得到8比特垂直方向校驗位。

2、根據權利要求1所述的高級加密標準的抗差錯攻擊的二維奇偶校驗檢錯方法，其特征在于式1表示了高級加密標準中的128比特數據的分布情況，其中S_i，j代表一個字節數據：

S0,0S0,1S0,2S0,3S1,0S1,1S1,2S1,3S2,0S2,1S2,2S2,3S3,0S3,1S3,2S3,3]]>(式1)

其中水平方向的奇偶校驗，通過計算每個字節中的所有8個比特的異或和，得到16比特奇偶校驗位，由式2檢測水平方向上的奇數個錯誤，其中S_i，j表示式1中的某個字節數據，P_x(i，j)表示該數據對應的水平方向奇偶校驗位：

Px(i,j)=Σk=07Si,j(k)]]>(式2)

垂直方向的奇偶校驗，通過計算所有16個字節的異或和，得到8比特奇偶校驗位，由式3檢測垂直方向上的奇數個錯誤，其中P_y，k表示式1中的某一列數據的垂直方向奇偶校驗位，P_y表示全部16個字節數據的垂直方向奇偶校驗位：

Py=Σi=03Si,k,Py=Σk=03Py,k=Σi=03Σj=03Si,j]]>(式3)。