[發明專利]一種試樣多點測量機構

有效

• 申請號: 200810033966.X
• 申請日: 2008-02-28
• 公開（公告）號: CN101520308A
• 公開（公告）日: 2009-09-02
• 發明（設計）人: 李明義;謝恩昕;楊毅
• 申請（專利權）人: 上海華龍測試儀器有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司
• 代理人: 吳澤群

技術領域

本發明涉及一種測量機構。

背景技術

目前，試樣的測量為手工操作計量器具(例如：游標卡尺)。若要多點測量，檢查人員手法不同和視覺誤差，會給試樣的尺寸測量帶來較大誤差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供了一種試樣多點測量機構，利用多級汽缸的精確走位，移動固定在多位汽缸上的傳感器，達到試樣尺寸測量的多點化。精確走位的可控性，消除手工抄做和視覺帶來的誤差。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的：

一種試樣多點測量機構，其特征在于：包括左右對稱設置于立板上的一組縱向滑軌，所述一組縱向滑軌上下分別設有沿縱向滑軌移動的上縱向滑塊和下縱向滑塊，所述上下縱向滑塊由固接于立板上的兩個縱向汽缸分別帶動，所述上下縱向滑塊上分別各裝有一組對稱的橫向滑軌，即上橫向滑軌組和下橫向滑軌組，每組橫向滑軌上設有三塊平行的橫向滑塊，即左橫向滑塊、中橫向滑塊和右橫向滑塊，每塊橫向滑塊上設有傳感器，所述左右橫向滑塊由設置在所屬縱向滑塊上的兩個橫向氣缸分別連接帶動。

所述傳感器是光柵傳感器。

所述上橫向滑軌組包括第一橫向滑軌和第二橫向滑軌，所述下橫向滑軌組包括第一橫向滑軌和第二橫向滑軌。

由上述公開技術方案可見，本發明結構簡單、使用方便，利用多級汽缸的精確走位，移動固定在多位汽缸上的傳感器，達到試樣尺寸測量的多點化。精確走位的可控性，消除手工抄做和視覺帶來的誤差。

附圖說明

圖1是試樣多點測量機構的示意圖；

圖中：1a一縱向滑軌，1b一縱向滑軌，2一縱向汽缸，2’一縱向汽缸，3一縱向滑塊，3’一縱向滑塊，4a一橫向滑軌，4b一橫向滑軌，4a’一橫向滑軌，4b’一橫向滑軌，52一橫向汽缸，53一橫向汽缸，52’一橫向汽缸，53’一橫向汽缸，61一橫向滑塊，62一橫向滑塊，63一橫向滑塊，61’一橫向滑塊，62’一橫向滑塊，63’一橫向滑塊，71一傳感器，72一傳感器，73一傳感器，71’一傳感器，72’一傳感器，73’一傳感器。

具體實施方式

以下結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步說明：

請參見圖1，這種試樣多點測量機構，包括左右對稱設置的一組縱向滑軌1a、1b、縱向汽缸2、2’、縱向滑塊3、3’，以及上下對稱設置的兩組橫向滑軌4a、4b和橫向滑軌4a’、4b’、兩組橫向氣缸52、53和橫向氣缸52’、53’；所述的一組縱向滑軌1a、1b和縱向汽缸2、2’固接于立板12上，并在縱向滑軌1a、1b上下分別設有經縱向汽缸2、2’帶動的縱向滑塊3、3’，同時，所述縱向滑塊3、3’上分別裝有上下對稱設置的兩組橫向滑軌4a、4b和橫向滑軌4a’、4b’；所述橫向滑軌4a、4b上設有三塊橫向滑塊61、62、63，所述橫向滑軌4a’、4b’上設有三塊橫向滑塊61’、62’、63’；各對應的橫向滑塊61、62、63和橫向滑塊61’、62’、63’上對應設有傳感器71、72、73和傳感器71’、72’、73’；分設于縱向滑塊3、3’的兩組橫向氣缸52、53和橫向氣缸52’、53’分別與其匹配的橫向滑塊相連接。所述橫向氣缸52、53分別與橫向滑塊62、63連接，使得橫向氣缸52、53可以分別帶動橫向滑塊62、63沿橫向滑軌4a、4b左右移動。所述橫向氣缸52’、53’分別與橫向滑塊62’、63’連接，使得橫向氣缸52’、53’可以分別帶動橫向滑塊62’、63’沿橫向滑軌4a、4b左右移動；

所述傳感器71、72、73、71’、72’、73’是光柵傳感器。

該試樣多點測量機構是這樣使用的：

首先，基于試樣的長度，通過橫向汽缸52帶動橫向滑塊62沿橫向滑軌4a、4b左右滑動，橫向汽缸53帶動橫向滑塊63沿橫向滑軌4a、4b左右滑動，橫向汽缸52’帶動橫向滑塊62’沿橫向滑軌4a’4b’左右滑動，橫向汽缸53’帶動橫向滑塊63’沿橫向滑軌4a’、4b’左右滑動，使得橫向滑塊61、62、63、61’、62’、63’均布在試樣的上下兩側。