[發明專利]一種易于測量TFT特性的陣列基板

有效

• 申請號: 200810033891.5
• 申請日: 2008-02-26
• 公開（公告）號: CN101256326A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發明（設計）人: 楊海鵬;吳賓賓
• 申請（專利權）人: 上海廣電光電子有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G02F1/1343;G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司
• 代理人: 白璧華

1.一種易于測量TFT特性的陣列基板，包括掃描線、數據線、絕緣層、像素電極以及封框膠，其特征在于：

在陣列基板顯示區的四個角各設置有一個附加像素電極，并且在顯示區域四周邊緣分別設置有與之相對應連接的兩根附加掃描線和兩根附加數據線，

在附加像素電極的一側，在數據線層與數據線相平行地設置有另外兩根附加測量配線，所述的附加像素電極向附加測量配線的一側設置有連接凸塊，該連接凸塊部分與所述附加測量配線重疊；

所有六根附加配線都設置有與之電連接的伸出于封框膠之外的ITO測量塊。

2.根據權利要求1所述的易于測量TFT特性的陣列基板，其特征在于：所述的附加測量配線設置于附加像素電極的外側。

3.根據權利要求1所述的易于測量TFT特性的陣列基板，其特征在于：所述的ITO測量塊為像素電極層的導電片，其內端通過接觸孔與附加配線電連接，其外端伸出封框膠外形成裸露的測量端。

4.根據權利要求1所述的易于測量TFT特性的陣列基板，其特征在于：所述的附加配線延伸到封框膠之外的區域，在封框膠之外的區域像素電極層設置有ITO測量塊，ITO測量塊與附加配線電連接。

5.根據權利要求4所述的易于測量TFT特性的陣列基板，其特征在于：所述的附加配線封框膠之外區域上層的絕緣層刻蝕有測量塊缺口，缺口內設置有與附加配線直接電連接的ITO測量塊。