[發明專利]臨界放電間隙的測量方法

無效

• 申請號: 200810033734.4
• 申請日: 2008-02-21
• 公開（公告）號: CN101229622A
• 公開（公告）日: 2008-07-30
• 發明（設計）人: 郭常寧;劉剛;趙曉明;裴景玉;倪陽
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: B23Q15/22
• 分類號: B23Q15/22;B23H1/00;G01B5/14
• 代理公司: 上海交達專利事務所
• 代理人: 王錫麟;王桂忠

1.一種臨界放電間隙的測量方法，其特征在于，首先使工件平面與XOY保持平行并夾緊，將電極與工件在A點接觸感知，設定此接觸A點的坐標位置為零即Z＝0；然后使電極沿Z軸回退Lmm至坐標位置B點，該B點為在電極與工件兩端施加開放電壓后，不產生放電的位置，此時，啟動加工程序，使用放電加工機床沿Z軸方向，從B點向下自動加工一個最小距離ΔZmm；加工結束后，電極自動回退至B點，此時觀察A點處是否有放電痕，如有，則電極與工件表面的距離Z＝Lmm-ΔZmm即為臨界放電間隙，如果沒有放電痕，將加工程序中加工距離設定為2×ΔZmm；然后重復上述加工過程，若在第n次工件表面上第一次觀察到放電痕時，則臨界放電間隙為：Lmm-n×ΔZmm。

2.根據權利要求1所述的臨界放電間隙的測量方法，其特征是，將上述加工方向Z坐標改變為X坐標，ΔZ換成ΔX，重復第一步操作，進行X方向的臨界放電間隙測試；

3.根據權利要求1所述的臨界放電間隙的測量方法，其特征是，將上述加工方向Z坐標改為Y坐標，ΔZ換成ΔY，重復第一步操作，進行Y方向的臨界放電間隙測試。

4.根據權利要求1所述的臨界放電間隙的測量方法，其特征是，最小距離ΔZmm由機床精度決定。