[發明專利]TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法有效
| 申請號： | 200810033303.8 | 申請日： | 2008-01-31 |
| 公開（公告）號： | CN101221146A | 公開（公告）日： | 2008-07-16 |
| 發明（設計）人： | 周保學;劉艷彪;白晶;鄭青;李金花;蔡偉民 | 申請（專利權）人： | 上海交通大學 |
| 主分類號： | G01N27/416 | 分類號： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 上海交達專利事務所 | 代理人： | 毛翠瑩 |
| 地址： | 200240*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | tio sub 納米 陣列 電極 光電 催化 測定 化學 需氧量 方法 | ||
1.一種TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法，其特征在于測定COD的光電催化反應在一反應池中進行，以金屬鈦基TiO2納米孔陣列薄膜為光陽極，金屬鉑片做對電極，Ag/AgCl做參比電極，以惰性無機鹽硫酸鈉為電解質，向反應池中注入待測COD水樣溶液，在陽極上施加偏電壓0.2～1.5V，同時紫外光通過反應池一側的石英窗口照射至反應池內TiO2納米孔陣列薄膜光陽極上，通過測定反應池中有機物光電催化反應的電化學信號來測定COD值。
2.根據權利要求1的TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法，其特征在于所述的鈦基TiO2納米孔陣列薄膜，由金屬鈦在含有氫氟酸或氟化物的有機電解質溶液中進行陽極氧化，并經超聲波超聲處理去除鈦表面松散薄膜后，得到的由金屬鈦和鈦表面的氧化鈦構成的鈦基氧化鈦納米孔陣列材料，再經高溫燒結后得到。
3.根據權利要求1的TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法，其特征在于所述的TiO2納米孔陣列薄膜的納米孔孔徑處于60～400nm范圍。
4.根據權利要求1的TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法，其特征在于所述的反應池是薄層微型反應器，其反應器槽間距為0.1～0.2mm，槽內每側槽壁面積為0.7～2cm2；所述的電化學信號是有機物完全光電催化氧化時所消耗的庫侖電量值；根據已知水樣完全光電催化氧化時所消耗的庫侖電量值和COD的響應曲線，來測定未知水樣的COD值。
5.根據權利要求1的TiO2納米孔陣列電極光電催化測定化學需氧量的方法，其特征在于所述的反應池是常規反應池；所述的電化學信號是有機物光電催化氧化時的光生飽和電流值；根據已知COD水樣光生飽和電流值和COD的響應曲線，來測定未知水樣的COD值。
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