[發明專利]基于改進型BP神經網絡的模擬電路軟故障診斷方法

無效

• 申請號: 200810030585.6
• 申請日: 2008-02-02
• 公開（公告）號: CN101231672A
• 公開（公告）日: 2008-07-30
• 發明（設計）人: 何怡剛;祝文姬;劉美容;陽輝;方葛豐;謝宏;朱彥卿;唐志軍;譚陽紅;肖迎群
• 申請（專利權）人: 湖南大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50;G06N3/02
• 代理公司: 長沙市融智專利事務所
• 代理人: 顏昌偉

1.一種基于改進型BP神經網絡的模擬電路軟故障診斷方法，包括以下步驟：計算待測電路元件容差情況的靈敏度

計算軟故障情況下元件容差情況的靈敏度

根據元件容差情況的靈敏度曲線選擇激勵信號與測試節點；

對樣本電路施加所選的激勵信號，在測試節點處提取電壓信號并經主元分析和歸一化處理后提取故障特征，加入白噪聲之后構成神經網絡的訓練樣本；

采用免疫遺傳算法優化BP網絡；

將訓練樣本輸入優化后的BP網絡實現對網絡的訓練；

待測電路的實際測量信號經主元分析和歸一化處理后提取故障特征，將故障特征輸入訓練好的優化BP神經網絡，網絡的輸出即為故障類型。

2.根據權利要求1所述的基于改進型BP神經網絡的模擬電路軟故障診斷方法，所述電路元件容差情況的靈敏度計算步驟如下：

將電路元件參數偏移量Δ_i構成的k維連續空間D，并在空間D引入滿足勒貝格可積而且能夠反映元件參數偏移量對電路性能影響的函數u(Δ)，求出p^γ′=p^N(γ),∀γ≥γmin≥0]]>曲線就是在某一激勵信號作用下電路性能函數對元件參數的靈敏度曲線。

3.根據權利要求1所述的基于改進型BP神經網絡的模擬電路軟故障診斷方法，所述BP網絡的輸入節點數和輸入值與輸出節點數和輸出值都是由實際測試電路確定，激活函數采用S型函數，采用免疫遺傳算法來優化BP網絡步驟如下：對隱層節點數與網絡的權值進行混合實數編碼形成抗體串，適應度函數f(X_i)定義為BP神經網絡的平方誤差均值函數E(X_i)，對抗體實施兩點交叉產生下一代抗體，同時對抗體進行高斯變異產生新抗體，最后采用基于抗體濃度的高低對抗體群體進行更新，實現BP神經網絡的優化。