[發(fā)明專利]LED光源綜合發(fā)光特性連續(xù)檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810027726.9
• 申請日: 2008-04-28
• 公開（公告）號: CN101571451A
• 公開（公告）日: 2009-11-04
• 發(fā)明（設計）人: 任豪;羅宇強;李康業(yè);王巧彬
• 申請（專利權）人: 廣州市光機電技術研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/00;G01R31/00;G01J1/00;G01J3/28
• 代理公司: 廣州新諾專利商標事務所有限公司
• 代理人: 羅毅萍

1.一種LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，包括檢測樣品座、LED特性檢測裝置，其特征在于：還包括導軌、測控裝置和數據處理器；檢測樣品座設置在導軌上，沿導軌設置至少兩個檢測工位，每一檢測工位上均安裝有LED特性檢測裝置；所述檢測樣品座在測控裝置的控制下沿導軌移動；LED特性檢測裝置對固定在檢測樣品座上的樣品進行檢測，并將檢測信號傳輸至測控裝置；數據處理器從測控裝置中讀取檢測信號并對其進行分析處理；進一步設有基架，導軌和檢測工位設置在該基架上；每一檢測工位上還設有一檢測支架，LED特性檢測裝置安裝在檢測支架上，所述測控裝置包括控制電路、信號采集電路、數量與檢測支架數量一致的定位傳感器，每一檢測支架上設有一個定位傳感器；控制電路分別與定位傳感器、導軌、數據處理器連接；信號采集電路與LED特性檢測裝置和數據處理器連接。

2.根據權利要求1所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述導軌包括滑塊和軌道；其中滑塊設置在軌道上并與檢測樣品座連接，檢測樣品座與滑塊一起沿軌道移動。

3.根據權利要求2所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述導軌還包括設置在軌道的一端、驅動檢測樣品座與滑塊沿軌道移動的電機。

4.根據權利要求1或3所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述檢測工位設有三個，檢測支架包括第一檢測支架、第二檢測支架和第三檢測支架；LED特性檢測裝置由不同的LED光源發(fā)光特性的測試儀器組成，包括固定在第一檢測支架上的光強計和攝像機、固定在第二檢測支架上的積分球、固定在第三檢測支架上的光強度空間分布特性快速檢測儀，其中積分球的通光孔上分別安裝光度計和光譜儀的檢測探頭。

5.根據權利要求1或3所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述檢測樣品座裝備有LED光源安裝夾具或接口，以及與驅動恒流源相連接的電極。

6.根據權利要求1或3所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述的數據處理器為設有測控軟件的計算機。

7.根據權利要求4所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述第二檢測支架上的兩側設有移動導軌，可帶動積分球上下移動。

8.根據權利要求4所述的LED光源綜合發(fā)光特性檢測裝置，其特征在于：所述第二檢測支架可帶動積分球左右翻轉。