[發明專利]檢測用面板與彩色濾光片之檢驗方法

無效

• 申請號: 200810027723.5
• 申請日: 2008-04-25
• 公開（公告）號: CN101566578A
• 公開（公告）日: 2009-10-28
• 發明（設計）人: 張政雄
• 申請（專利權）人: 深超光電(深圳)有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 東莞市中正知識產權事務所
• 代理人: 侯來旺

1.一種彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包含：

提供該待檢測彩色濾光片，其具有一第一光阻與一第二光阻，以及一黑色矩 陣；

提供一檢測用面板，其中該檢測用面板包含：一上玻璃基板、一下玻璃基 板、一液晶層及一具有白色光源之背光模組；其特征在于，該上玻璃基板， 其上側面為偏光板，下側面為氧化銦錫電極層，且其下側面對應下玻璃基板 上側面；又，該下玻璃基板，其上側面為復數個次畫素及氧化銦錫電極層， 下側面設偏光板，且其上側面對應該上玻璃基板下側面；再，該液晶層，夾 于該上玻璃基板與該下玻璃基板之間；又，該具有白色光源之背光模組，配 置于該基板之一之另一側；其中，該面板更包含一遮光區域與一透光區域， 該遮光區域遮蔽待測彩色濾光片上部分的黑色矩陣，且該面板之次畫素小于 待檢測彩色濾光片之次畫素，該待檢測彩色濾光片之第一光阻與第二光阻分 別對應3個以上檢測面板次畫素；

將檢測用面板之白色光源，照射在該待檢測彩色濾光片與該檢測用面板上； 以及

驅動該檢測用面板，以產生一遮光區域與一透光區域，該遮光區域對應于該 第一光阻，且該遮光區域還遮蔽待測彩色濾光片上部分的黑色矩陣，該透光 區域對應于該第二光阻。

2.根據權利要求1所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該白色光源提供一第一光線，其照射在該遮光區域上。

3.根據權利要求2所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該遮光區域吸收該第一光線。

4.根據權利要求2所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該遮光區域反射該第一光線。

5.根據權利要求1所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該白色光源提供一第二光線，其照射在該透光區域上。

6.根據權利要求5所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，透過該透光區域，該第二光線照射在該第二光阻上。

7.根據權利要求5所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，透過該第二光阻，該第二光線被轉換為一單色光。

8.一種彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包含：

提供該待檢測彩色濾光片，其具有一第一光阻與一第二光阻，以及一黑色矩 陣；

提供一檢測用面板，其中該檢測用面板包含：一上玻璃基板、一下玻璃基 板、一液晶層及一具有白色光源之背光模組；其特征在于，該上玻璃基板， 其上側面為偏光板，下側面為氧化銦錫電極層，且其下側面對應下玻璃基板 上側面；又，該下玻璃基板，其上側面為復數個次畫素及氧化銦錫電極層， 下側面設偏光板，且其上側面對應該上玻璃基板下側面；再，該液晶層，夾 于該上玻璃基板與該下玻璃基板之間；又，該具有白色光源之背光模組，配 置于該基板之一之另一側；其中，該面板更包含一遮光區域與一透光區域， 該遮光區域遮蔽待測彩色濾光片上部分的黑色矩陣，且該面板之次畫素小于 待檢測彩色濾光片之次畫素，待檢測彩色濾光片之第一光阻與第二光阻分別 對應3個以上檢測面板次畫素；

驅動該檢測用面板，以產生一遮光區域與一透光區域，該遮光區域遮蔽待測 彩色濾光片上部分的黑色矩陣；

照射白色光源之一第一光線于該遮光區域；

照射該白色光源之一第二光線于該透光區域與該第二光阻；以及

轉換該第二光線為一單色光。

9.根據權利要求8所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該遮光區域吸收該第一光線。

10.根據權利要求8所述之彩色濾光片之檢驗方法，其特征在于，其包 含，藉由該遮光區域反射該第一光線。