[發(fā)明專利]一種無塵布表面光潔度的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810026210.2
• 申請日: 2008-01-31
• 公開（公告）號: CN101498672A
• 公開（公告）日: 2009-08-05
• 發(fā)明（設計）人: 汪永紅
• 申請（專利權）人: 東莞市碩源電子材料有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N33/36
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司
• 代理人: 梁永宏

技術領域

本發(fā)明涉及無塵布檢測方法領域，尤其是指一種無塵布表面光潔度的檢測方法。

背景技術

無塵布是廣泛使用在電子光學設備的一種化學布料，對其表面光潔效果有很高的要求，要達到“無塵”的效果需要盡可能的減少表面毛刺的數(shù)量，消除無潛在的掉毛因素。目前無塵布的表面光潔度的檢查方法是將無塵布攤開，憑經驗用肉眼檢查布面毛刺狀況，這樣的檢驗方法存在檢驗標準不能夠統(tǒng)一，主觀性太強的缺點，給供需雙方帶來了很多分歧。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于針對目前無塵布表面光潔度的檢測存在的不足，而提供能量化表面光潔度的的一種無塵布表面光潔度的檢測方法。

為達到上述目的，本發(fā)明采用如下技術方案：

一種無塵布表面光潔度的檢測方法，它包括以下幾個步驟：

1)、取至少一片待測無塵布將無塵布對折；

2)、量取對折線的長度；

3)、在選定倍體視顯微鏡下點數(shù)對折線上毛刺的數(shù)量；

4)、表面光潔度的表征參數(shù)：毛刺線密度＝所有次測量毛刺總數(shù)/總測量對折線長度。

本發(fā)明的有益效果在于：本發(fā)明通過以上步驟的方法，能客觀的提出計算出無塵布表面光潔度的表征參數(shù)：毛刺線密度。毛刺線密度的數(shù)值越小，表面光潔度效果越好，通過跟制定參照毛刺線密度進行對比可以判斷無塵布表面光潔度是否達到所需的要求；這樣能解決困擾無塵布表面光潔度檢查的問題，來提高無塵布檢驗的效率與客觀可靠性，以往單憑肉眼檢查相比，此方法具有精度高，可操作性強的特點。

具體實施方式

下面對本發(fā)明作進一步闡述：

對一次無塵布表面表面光潔度的具體檢測步驟如下：

1、取3片待測無塵布分別對折；

2、用直尺分別量取對折線的長度均為10cm、20cm、30cm；

3、在60倍體視顯微鏡下點數(shù)對折線上毛刺的數(shù)量分別為5、20、16；

4、取三片無塵布毛刺數(shù)量測量值的平均值即為表面光潔度的表征參數(shù)毛刺線密度：

毛刺線密度＝三次測量毛刺總數(shù)/總測量對折線長度＝(5+20+16)/10+20+30＝0.76。

本發(fā)明通過以上步驟的方法，能客觀的提出計算出無塵布表面光潔度的表征參數(shù)：毛刺線密度。毛刺線密度的數(shù)值越小，表面光潔度效果越好，通過跟制定參照毛刺線密度進行對比可以判斷無塵布表面光潔度是否達到所需的要求；這樣能解決困擾無塵布表面光潔度檢查的問題，來提高無塵布檢驗的效率與客觀可靠性，以往單憑肉眼檢查相比，此方法具有精度高，可操作性強的特點。

以上所述實施例，只是本發(fā)明的較佳實例，并非來限制本發(fā)明實施范圍，故凡依本發(fā)明申請專利范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應包括于本發(fā)明專利申請范圍內。