[發明專利]檢測控制電路及電子裝置

有效

• 申請號: 200810026010.7
• 申請日: 2008-01-24
• 公開（公告）號: CN101237229A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 魏孔剛;劉海龍;張高峰
• 申請（專利權）人: 深圳華為通信技術有限公司
• 主分類號: H03K17/687
• 分類號: H03K17/687;H03K17/60;H03K17/94
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司
• 代理人: 郝傳鑫;熊賢卿

1、一種檢測控制電路，其特征在于，該檢測控制電路與供電線路、推進線路構成的串聯通路相連，用于檢測到所述串聯通路上無電流時，控制關斷所述串聯通路；檢測到所述串聯通路上有電流時，控制導通所述串聯通路。

2、如權利要求1所述的檢測控制電路，其特征在于，所述推進線路輸出端有一等電勢位，該檢測控制電路包括：

具有柵極、源極、漏極的第一開關場效應管、第二開關場效應管；供電電阻；脈沖發生電路；由具有同相輸入端、反向輸入端、輸出端的集成運算放大電路和比例運算電阻組成的負反饋放大電路；檢測電阻；

所述第一開關場效應管的柵極與所述第二開關場效應管的漏極相連；所述第一開關場效應管的漏極與所述推進線路輸入端相連；所述第一開關場效應管的源極與所述供電線路輸出端相連；所述第一開關場效應管的柵極與所述供電線路輸出端之間并聯了為所述第一開關場效應管柵極供電的供電電阻；

所述第二開關場效應管的柵極分別與所述集成運算放大電路輸出端、所述脈沖發生器輸出端相連；所述第二開關場效應管的源極接地；

所述檢測電阻一端接地，另一端作為所述等電勢位；

所述集成運算放大電路的反向輸入端與輸出端之間并聯有所述第一比例運算電阻，所述集成運算放大電路的反向輸入端通過所述第二比例運算電阻接地，所述集成運算放大電路的同相輸入端作為所述等電勢位。

3、如權利要求2所述的檢測控制電路，其特征在于，該檢測控制電路還包括：

所述第一開關場效應管的漏極與所述第二開關場效應管的柵極之間并聯的第一分壓電阻，所述第二開關場效應管的柵極與地之間并聯的第二分壓電阻；和/或，

所述集成運算放大電路同相輸入端通過一限流電阻作為所述等電勢位，所述集成運算放大電路同相輸入端通過一濾波電容接地。

4、如權利要求2或3所述的檢測控制電路，其特征在于，所述第一開關場效應管為P溝道金屬-氧化物-半導體場效應管，所述第二開關場效應管為N溝道金屬-氧化物-半導體場效應管。

5、如權利要求1所述的檢測控制電路，其特征在于，所述推進線路輸出端有一等電勢位，該檢測控制電路包括：

具有基極、發射極、集電極的第一開關晶體管、第二開關晶體管；供電電阻；脈沖發生電路；由具有同相輸入端、反向輸入端、輸出端的集成運算放大電路和比例運算電阻組成的負反饋放大電路；檢測電阻；

所述第一開關晶體管的基極與所述第二開關晶體管的集電極相連；所述第一開關晶體管的集電極與所述推進線路輸入端相連；所述第一開關晶體管的發射極與所述供電線路輸出端相連；所述第一開關晶體管的基極與所述供電線路輸出端之間并聯了為所述第一開關晶體管基極供電的供電電阻；

所述第二開關晶體管的基極分別與所述集成運算放大電路輸出端、所述脈沖發生器輸出端相連；所述第二開關晶體管的發射極接地；

所述檢測電阻一端接地，另一端作為所述等電勢位；

所述集成運算放大電路的反向輸入端與輸出端之間并聯有所述第一比例運算電阻，所述集成運算放大電路的反向輸入端通過所述第二比例運算電阻接地，所述集成運算放大電路的同相輸入端作為等電勢位。

6、如權利要求5所述的檢測控制電路，其特征在于，該檢測控制電路還包括：

所述第一開關晶體管的漏極與所述第二開關晶體管的柵極之間并聯的第一分壓電阻，所述第二開關晶體管的柵極與地之間并聯的第二分壓電阻；和/或，

所述集成運算放大電路同相輸入端通過一限流電阻作為所述等電勢位，所述集成運算放大電路同相輸入端通過一濾波電容接地。

7、如權利要求5或6所述的檢測控制電路，其特征在于，所述第一開關晶體管為PNP晶體三極管，所述第二開關晶體管為NPN晶體三極管。

8、一種電子裝置，包括有供電線路與推進線路組成的串聯通路，其特征在于，該電子設備還包括一檢測控制電路，該檢測控制電路與供電線路、推進線路構成的串聯通路相連，用于檢測到所述串聯通路上無電流時，控制關斷所述串聯通路；檢測到所述串聯通路上有電流時，控制導通所述串聯通路。