[發明專利]眼圖遮罩修正方法

無效

• 申請號: 200810025720.8
• 申請日: 2008-01-10
• 公開（公告）號: CN101482601A
• 公開（公告）日: 2009-07-15
• 發明（設計）人: 柳富升
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區順達電腦廠有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及到一種眼圖遮罩修正方法，特別是涉及到一種在一種環境進行另一種環境測試的眼圖遮罩修正方法。

背景技術

現行眼圖遮罩(MASK)量測技術是將被測設備在各種狀態下的參數以圖形化表示，測試時，只需觀察眼圖遮罩與被測設備信號波形的關系，即可快速判斷是否在規格內，以及計算出偏差值。

比如在低溫低壓條件下測試總線接口的一種總線接口眼圖遮罩，其是將總線接口在低溫低壓等狀態下的量測最高標準值和量測最低標準值，輸入到眼圖遮罩中，眼圖遮罩將該值以一圖形顯示出一界限區域，而可迅速判定測試結果以及偏差范圍。

但該種眼圖遮罩具有一定的局限性，即要得出一種狀態下的測試結果，需要在該種狀態下進行測試，比如要得出總線接口在低溫低壓下的測試結果，需要將總線接口在低溫低壓下進行測試。使得如需進行多種特殊條件(低溫低壓、低溫高壓、高溫低壓、高溫高壓狀態等)下的測試進行很不方便。

發明內容

為解決上述局限性的問題，本發明提出了一種簡單、實用的眼圖遮罩的修正方法。

本發明技術方案為：一種眼圖遮罩修正方法，此方法步驟如下，

a.多次取得第一狀態下的量測值；

利用之前經驗數據，或者通過實驗在特殊環境中量測多組第一狀態量測值；

b.多次取得第二狀態下的量測值；

同樣可利用之前經驗數據，或者通過實驗在普通環境中量測多組第二狀態量測值；

c.計算出兩種狀態下的變化量；

利用第一狀態量測值-第二狀態量測值，得出一差值，由于有多組量測值而可得出多組差值，則可通過歸納法整理得出兩種狀態下測量值的變化量；

d.計算出眼圖遮罩的修正值：眼圖遮罩修正值＝眼圖遮罩第一狀態標準值-變化量；

利用第一狀態量測標準值減去第一、二狀態量測值的變化量，得出第一狀態量測標準值在第二狀態中的量測修正值；

e.利用量測修正值修正眼圖遮罩。

將量測修正值輸入到眼圖遮罩中，修改之前所設置的參數，則可在第二狀態下模仿進行第一狀態的測試，得出在第一狀態下的測試結果。

本發明的修正方法，通過參數的修正，可在第二狀態下測試出所需要的第一狀態下的測試結果，而無需到第一狀態環境下進行測試，可方便使用者在一種環境進行其它環境的測試。

附圖說明

圖1為本發明方法的流程示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖詳述本發明的實施例。

如圖1所示的一種眼圖遮罩(MASK)修正方法，此方法是通過將修正值輸入到眼圖遮罩中，以改變眼圖形狀，達到在室溫下測試評估出低溫低壓、低溫高壓、高溫低壓、高溫高壓四種狀態對波形等的影響。

本實施例眼圖遮罩修正方法步驟為：

a.多次取得特殊狀態下的量測值；

利用之前經驗數據，或者通過實驗在低溫低壓、低溫高壓、高溫低壓、高溫高壓時，量測多組總線接口的波形參數值，以低溫低壓為例，此波形參數值還包括一量測最高值(MAX?U)和一量測最低值(MIN?U)。

b.多次取得一般狀態下的量測值；

同樣利用之前經驗數據，或者通過實驗在普通環境(常溫常壓)中，量測多組總線接口的波形參數值，以低溫低壓為例，此波形參數值還包括一量測最高值(MAX?N)和一量測最低值(MIN?N)。

c.計算出兩種狀態下的量測變化量；

在低溫低壓狀態下，若差值為D1、D2，則利用D1＝MAX?U-MAX?N、D2＝MINU-MIN?N，分別計算出多組特殊狀態和一般狀態下，波形參數兩量測最高值和兩量測最低值的差值，再利用歸納法整理出總線接口在低溫低壓狀態下與一般狀態下的波形參數量測變化量(V)。

d.計算出眼圖遮罩的量測修正值(M)：眼圖遮罩量測修正值(M)＝眼圖遮罩特殊狀態量測標準值(S)-量測變化量(V)；

眼圖遮罩在低溫低壓狀態下設有一量測最高標準值(S1)和一量測最低標準值(S2)，取得總線接口在低溫低壓狀態下與一般狀態下波形參數的最高變化量(V1)和最低變化量(V2)后，利用上述公式計算出最高修正值(M1)和最低修正值(M2)：M1＝S1-V1，M2＝S2-V2；此處所計算得出的修正值即為在一般狀態下的仿制低溫低壓量測標準值。

e.利用量測修正值修正眼圖遮罩。