[發明專利]中心距測量機構

有效

• 申請號: 200810022136.7
• 申請日: 2008-06-25
• 公開（公告）號: CN101319865A
• 公開（公告）日: 2008-12-10
• 發明（設計）人: 吳群新;張磊;靳偉強
• 申請（專利權）人: 無錫富瑞德精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所
• 代理人: 殷紅梅

1、一種中心距測量機構，包括底板(9)，其特征是：在底板(9)的一端部孔內設置有第一導套(1)，第一導套(1)上設有安裝內孔(6)，在安裝內孔(6)的上端旋接螺塞(2)，所述安裝內孔(6)的下端滑動插接有第一測量銷體(4)，第一測量銷體(4)底端呈倒置的圓臺或圓錐狀并伸出底板(9)下端面，在第一測量銷體(4)與螺塞(2)之間的內孔內設有復位彈簧(3)；底板(9)的另一端部開設有沿著其長度方向的滑槽(11)，在底板(9)上端面設有覆蓋滑槽(11)的蓋板(15)，蓋板(15)上設有導軌(16)，導軌(16)上滑動連接有滑塊(19)，滑塊(19)下端連接伸入滑槽(11)內的第二導套(23)，第二導套(23)上設有安裝內孔(12)，安裝內孔(12)的下端滑動插接有第二測量銷體(21)，第二測量銷體(21)底端呈倒置的圓臺或圓錐狀并伸出底板(9)下端面，在第二測量銷體(21)與滑塊(19)之間設有復位彈簧(20)，在底板(9)上設有抵在第二導套(23)外壁面的測量頭(13)。

2、如權利要求1所述的中心距測量機構，其特征是：在第一測量銷體(4)上開設有導向孔(7)，在底板(9)上架設有伸入該導向孔(7)內的導向桿(5)。

3、如權利要求1所述的中心距測量機構，其特征是：在第二測量銷體(21)上開設有導向孔(24)，在底板(9)上架設有伸入該導向孔(24)內的導向桿(22)。

4、如權利要求1所述的中心距測量機構，其特征是：在底板(9)兩端底端面分別設有第二基準塊(25)與第一基準塊(10)，第一測量銷體(4)的底端從第二基準塊(25)的基準孔(14)內伸出，第二測量銷體(21)的底端從第一基準塊(10)的基準孔(17)內伸出。

5、如權利要求1所述的中心距測量機構，其特征是：在底板(9)上端面設有把手。