[發明專利]塞規頭孔徑測量機構

無效

• 申請號: 200810022132.9
• 申請日: 2008-06-25
• 公開（公告）號: CN101319864A
• 公開（公告）日: 2008-12-10
• 發明（設計）人: 劉明杰;顧震;周望威
• 申請（專利權）人: 無錫富瑞德精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/12
• 分類號: G01B5/12
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所
• 代理人: 殷紅梅

1、一種塞規頭孔徑測量機構，其特征是：包括導向套(7)底端兩側開設有安裝孔(10)，在安裝孔內滑動插接有測銷(8)，在導向套(7)內固定安裝有彈性套(5)，彈性套(5)內開設有滑孔(12)，在滑孔(12)內滑動插接有頂桿(4)，頂桿(4)的底端為錐形體(13)，頂桿(4)的頂端伸出導向套(7)，在位于導向套(7)外部的頂桿(4)上設有限位凸起(14)，所述限位凸起(14)架在滑孔(12)外側的導向套(7)端面上，在導向套(7)上端固定設有頂蓋(2)，所述頂蓋(2)的頂端部設有通孔(15)，頂桿(4)的頂端從通孔(15)內伸出，限位凸起(14)被頂蓋(2)包圍其中，所述限位凸起(14)上端的頂桿(4)外套有復位彈簧(1)，復位彈簧(1)的頂端部抵在通孔(15)外側的頂蓋(2)內壁，彈性套(5)底端對應于測銷(8)的兩側設有間隔片簧(11)，所述測銷(8)的內端部抵在各自一側的片簧(11)上，且錐形體(13)部分潛入兩片簧(11)之間的間隙內。

2、如權利要求1所述的塞規頭孔徑測量機構，其特征是：所述測銷(8)的外端部為球面體。

3、如權利要求1所述的塞規頭孔徑測量機構，其特征是：所述限位凸起(14)為圓環狀凸起。

4、如權利要求1所述的塞規頭孔徑測量機構，其特征是：所述頂蓋(2)下端的導向套(7)上螺接有滾花螺母(3)。

5、如權利要求1所述的塞規頭孔徑測量機構，其特征是：彈性套(5)與導向套(7)之間設有墊片(6)。

6、如權利要求1所述的塞規頭孔徑測量機構，其特征是：導向套(7)底端部設有端蓋(9)。