[發明專利]高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法

無效

• 申請號: 200810020056.8
• 申請日: 2008-03-21
• 公開（公告）號: CN101251557A
• 公開（公告）日: 2008-08-27
• 發明（設計）人: 牟陟;何徳軍;周之栩;李凡
• 申請（專利權）人: 蘇州長新微電子有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;H01L21/66
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司
• 代理人: 范晴

技術領域

本發明涉及一種高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法。

背景技術

普通的電阻在制成后，精度不是很高，具有較大的偏差值，而在高精度的芯片電路中，這些偏差值對芯片的精度影響就顯得較大，因此需要校準。現有技術中，用于高精度電路的內建永久性電阻的校準方法主要有：激光校準方法、傳統的電流熔斷內部熔斷條技術和傳統的自我校正方法。然而這些校準方法分別具有以下的缺點：

激光校準方法成本高，而且只能在封裝前完成，但是封裝后的芯片參數有可能會發生變化，這樣校準就不是十分準確。

傳統的電流熔斷內部熔斷條技術需要在芯片上設計大的測試和燒熔端金屬接觸點，增加芯片面積和成本，同時增加測試設備復雜性。

傳統的自我校正電路需要在芯片外增加一個精準電阻，這將增加應用系統的制造成本和復雜度，同時芯片本身也會浪費一個管腳，這對小型低管腳數芯片無疑會增加生產和封裝成本。

發明內容

本發明的目的是提供一種高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法，采用自動校準和管腳重用相結合的技術，以簡單和低成本的方式獲得高精度的電路，有效降低芯片對工藝的依賴，提高產品質量和成品率。

本發明的技術方案是：一種高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法，包括以下步驟：

(1)測試開始后，將待測芯片的PIN腳連接外部精準電阻，待測芯片測量并保存精準電阻的測量值一；

(2)得到測量值一后，待測芯片將待校準的電阻串連接入測量電路，測量得到測量值二；

(3)待測芯片將測量值一和測量值二進行自動比較，當二者的值不相等時，自動修正電阻串的值，重新測量得到測量值二并比較，直到測量值一和測量值二相等；

(4)待測芯片針對此時的電阻串的值來對待測芯片內部的熔斷條陣列進行相應的熔斷操作，使得自動校準后的電阻串的值永久記憶在熔斷條陣列中；

(5)將精準電阻從待測芯片的PIN腳斷開，使得PIN腳還可以繼續連接其它外部輸入/輸出電路，自動校準完畢。

本發明進一步的技術方案是：一種高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法，包括以下步驟：

(1)測試開始后，將待測芯片的PIN腳連接外部精準電阻，待測芯片測量并保存精準電阻的測量值一；

(2)得到測量值一后，待測芯片將待校準的電阻串連接入測量電路，測量得到測量值二；

(3)待測芯片將測量值一和測量值二進行自動比較，當二者的值不相等時，自動修正電阻串的值，重新測量得到測量值二并比較，直到測量值一和測量值二相等；

(4)待測芯片針對此時的電阻串的值來對待測芯片內部的熔斷條陣列進行相應的熔斷操作，使得自動校準后的電阻串的值永久記憶在熔斷條陣列中；

(5)將精準電阻從待測芯片的PIN腳斷開，使得PIN腳還可以繼續連接其它外部輸入/輸出電路，自動校準完畢。

所述PIN腳在待測芯片內部連接有一開關，所述開關在進行電阻串自動校準時與自動校準電路連通，自動校準后開關與內部輸入/輸出電路連通。

所述測量值一為待測芯片內部的恒流源連接到精準電阻后PIN腳上的電壓值，其被采樣并保持；所述測量值二為所述恒流源連接到電阻串后電阻串的電壓值。

本發明優點是：

1.采用本發明，可以避免傳統技術中的高成本和高復雜度的缺陷，以簡單和低成本的方式獲得高精度的電路，有效降低芯片對工藝的依賴，提高產品質量和成品率。

2.本發明獨特的自動校準和管腳重用相結合的技術保證了對用戶的透明性，簡化了用戶設計的要求。

3.本發明所使用的精準電阻為外部電阻，在測試時對每個芯片使用一次并可連續使用于不同批次的晶圓，保證了產品性能的一致性。

4.由于測試中的精準電阻可以采用不同的阻值，該方法有很大的靈活性，可以在封裝測試時將同一個設計校準成適應于不同工作范圍的產品，從而豐富了產品的系列化種類和應用范圍。

附圖說明

圖1為本發明的流程圖；

圖2為本發明實施例的系統框圖。

具體實施方式

下面結合附圖及實施例對本發明作進一步描述：

實施例：如圖1所示，一種高精度電路的內建永久性電阻自動校準方法，包括以下步驟：

(1)測試開始后，將待測芯片的PIN腳連接外部精準電阻，待測芯片測量并保存精準電阻的測量值一；

(2)得到測量值一后，待測芯片將待校準的電阻串連接入測量電路，測量得到測量值二；