[發明專利]釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG及其熔體法晶體生長方法有效
| 申請號: | 200810018480.9 | 申請日: | 2008-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN101307496A | 公開(公告)日: | 2008-11-19 |
| 發明(設計)人: | 張慶禮;殷紹唐;孫敦陸;劉文鵬;丁麗華;谷長江;李為民;秦清海;萬松明 | 申請(專利權)人: | 中國科學院安徽光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | C30B29/28 | 分類號: | C30B29/28;C30B11/00;C30B15/00 |
| 代理公司: | 安徽合肥華信知識產權代理有限公司 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 230031安徽省合*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 釓釔鈧鎵 石榴石 晶體 gysgg 及其 熔體法 晶體生長 方法 | ||
技術領域
本發明涉及外延薄膜襯底材料、晶體生長領域,具體是釓釔鈧鎵石榴石及其 熔體法法晶體生長方法。
技術背景
摻鉍釔鐵石榴石Bi:YIG是比純釔鐵石榴石YIG性能更為優良的磁光薄膜材 料。因純GGG晶體的晶格參數和YIG的晶格參數非常匹配,為1.2376nm,所以 GGG晶體是YIG外延薄膜的理想襯底材料。Bi3+摻入YIG后,YIG的晶格參數 變大,如果使用釓鎵石榴石GGG作為它的襯底材料,則Bi:YIG薄膜和襯底GGG 間有較大的晶格失配,這對薄膜的制備、質量和性能等都將產生不良影響。此時 需要根據薄膜的晶格參數,選擇合適的、晶格參數較GGG晶體更大的襯底材料。 人們通過長時間的探索,已經報道了在GGG中摻入Ca、Mg、Zr等雜質來增大 GGG的晶格參數,并已制備出了質量良好的(Ca,Mg,Zr):GGG晶體。但Ca,Mg,Zr 這些離子的摻入會造成晶體的應力很大,給生長、加工、使用都帶來了一定的問 題。因此,有必要尋找比GGG晶格參數大、制備相對容易的Bi:YIG外延襯底材 料。
發明內容
本發明的目的是提供一種釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG及其熔體法晶體生長 方法,通過Gd3+部分或全部取代釔鈧鎵石榴石Y3Sc2Ga3O12(YSGG)中的Y3+, 形成釓鈧鎵石榴石和釔鈧鎵石榴石的混晶——釓釔鈧鎵石榴石晶體(簡寫為 GYSGG)。
本發明的技術方案如下:
釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG,其特征在于:化合物的分子式可表示為 Gd3xY3(1-x)Sc2Ga3(1+δ)O12,其中,x的取值范圍為大于0且小于1,δ值可取正 值和負值,范圍-0.2-0.2。
所述的釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG,其特征在于:所述的原料配方為:
采用Gd2O3、Sc2O3、Y2O3作為原料,按如下化合式進行配料:
1.5xGd2O3+1.5(1-x)Y2O3+Sc2O3+(1.5+δ)Ga2O3→Gd3xY3(1-x)Sc2Ga3(1+δ)O12。
所述的釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG,其特征在于:所述原料Gd2O3、Y2O3、 Sc2O3、Ga2O3采用相應的釓、釔、鈧、鎵的其他化合物來進行代替進行原料配制, 只要通過化合反應能最終形成Gd3xY3(1-x)Sc2Ga3(1+δ)O12化合物即可。
所述的釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG的熔體法晶體生長方法,其特征在于:
(1)、將配好的原料進行充分混合后,用模具壓制成塊狀,在1000~1400℃ 下燒結10~24小時,成為GYSGG晶體生長的初始原料,或者壓制成塊狀的原料 不經燒結而直接成為晶體生長的初始原料;
(2)、將制備好的初始原料放入生長坩堝內,通過加熱并充分熔化,獲得晶 體生長初始熔體,然后采用熔體法晶體生長工藝——包括提拉法、坩堝下降法、 溫梯法以及其他從熔體進行單晶生長的方法來進行生長。
所述的釓釔鈧鎵石榴石晶體GYSGG的熔體法晶體生長方法,其特征在于: 對于需使用籽晶定向生長的熔體法生長工藝,如提拉法,籽晶為GYSGG單晶、 或釔鈧鎵石榴石YSGG單晶、或釓鈧鎵石榴石GSGG單晶,籽晶方向一般為[111] 方向,以及其他任意方向。
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