[發明專利]一種高低溫環境下的五軸測試臺

無效

• 申請號: 200810018221.6
• 申請日: 2008-05-16
• 公開（公告）號: CN101281090A
• 公開（公告）日: 2008-10-08
• 發明（設計）人: 姜明;姜斯亮;楊光雄;呂延軍
• 申請（專利權）人: 西安理工大學
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M19/00
• 代理公司: 西安弘理專利事務所
• 代理人: 羅笛

1、一種高低溫環境下的五軸測試臺，其特征在于：包括機架(1)，機架(1)上設置有水平的X-Y軸的定位板(2)，定位板(2)上設置有方箱(3)，在方箱(3)中安裝有Z軸裝置，Z軸裝置與方箱(3)之間設置有Z軸的調整和定位結構，在Z軸裝置的上端面上設置有α軸的調整和定位結構，在α軸調整和定位結構上設置有β軸調整和定位結構；在機架(1)上設置有工裝(6)。

2、根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述的定位板(2)上設置有定位孔，該定位孔每一組有兩個，一個為主定位孔，另一個為輔助定位孔。

3、根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述的Z軸的調整和定位結構是，包括在方箱(3)的內壁安裝有一對垂直設置的滾動導軌(8)，在滾動導軌(8)中安裝有Z軸裝置的Z軸(7)，Z軸(7)可以上下移動，Z軸裝置的Z軸(7)表面沿軸向設置有Z齒條(9)，Z齒條(9)與齒輪(12)連接，齒輪(12)與蝸輪減速器(11)連接，蝸輪減速器(11)與手輪(10)連接；在Z軸(7)的下端面中心設置有定位銷a(13)，在方箱(3)的底板上設置有定位銷b(14)，

在Z軸(7)上還安裝有一根Z軸標尺(15)，Z軸標尺(15)上設置有若干定位錐孔，在方箱(3)的側壁設置有定位銷c(16)。

4、根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述的α軸的調整和定位結構，包括轉動盤(18)，轉動盤(18)上設置有α軸(4)，轉動盤(18)設置在固定盤(17)的上面，轉動盤(18)與固定盤(17)同軸安裝，固定盤(17)與Z軸裝置的上端連接；

轉動盤(18)上還設置有定位銷d(19)，固定盤(17)上設置有相應的按照α角度坐標做出的定位錐孔。

5、根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述的β軸的調整和定位結構是，在轉動盤(18)上還設置有兩個立板，兩個立板之間安裝有可轉動的β軸(5)；在一側的立板上安裝有兩個圓盤，一個是固定圓盤(20)，與該側立板固連，固定圓盤(20)上設置有按照β角度坐標做出的定位錐孔，另一個圓盤是轉動圓盤(21)，轉動圓盤(21)與固定圓盤(20)同軸設置，轉動圓盤(21)上面設置有定位銷e(22)，轉動圓盤(21)與β軸(5)同軸連接；

β軸(5)上設置有一安裝平臺(23)。

6、根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述的定位銷都采用提拉式的定位銷方式定位。

7.根據權利要求1所述的測試臺，其特征在于：所述各零、部件的材質相同。