[發明專利]用于射頻雜訊的自動偵測裝置無效
| 申請號: | 200810008331.4 | 申請日: | 2008-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN101515007A | 公開(公告)日: | 2009-08-26 |
| 發明(設計)人: | 柯宣仲;謝辰陽 | 申請(專利權)人: | 京元電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/08 | 分類號: | G01R29/08 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 壽 寧;張華輝 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 射頻 雜訊 自動 偵測 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種自動偵測裝置,特別是涉及一種用于射頻雜訊的自動偵測裝置。
背景技術
當射頻電路中的待測元件在進行測試時,一般客戶會在量產前要求先做產線環境的檢測動作,原因是產線環境常會受到射頻訊號的干擾,造成測試裝置在檢測時的誤判,有可能是有效的接腳(Pass-bin)會變成無效的接腳(Fail-bin)或是無效的接腳變成有效的接腳,而造成測試的錯誤。因此,通常在產線量產前,會對于無線通訊器材的使用或是其它會影響高頻元件測試的條件做限制。但是一般的產線環境的檢測僅對于自動化測試設備(AutoTest?Equipment,ATE)室內的反射及散射等干擾做區域性的防護,對于測試元件之間的射頻雜訊干擾,并沒有有效的偵測方法,如此一來,就無法確切地得知是否有過量的射頻雜訊,足以去影響接腳(Pin)測試的誤判。換言之,上述的環測方式只是盡量去降低射頻雜訊的干擾,但并沒有辦法做真正的模擬去得知正在測試中的裝置,其受環境干擾的影響程度。
因此亟需想出一種用來偵測射頻雜訊的裝置與方法,以警示產線是否有射頻雜訊過量的情況發生。在測試載板(Load?Board)或晶片測試板(ChipEvaluation?Board,EVB)設計時,于印刷電路板(Print?Circuit?Board,PCB)上面加入天線的布局(Layout),利用天線的特性配合測試程序,偵測掃描比較容易產生射頻雜訊(如手機晶片等)或客戶常用的等測元件測試頻段。由于天線很靠近測試元件,而且測試環境也與待測元件的測試環境非常相似,因此天線幾乎可以完全等同于待測元件真正在做測試時所會遇到的環境干擾。
有鑒于上述現有的偵測射頻雜訊的裝置存在的缺陷,本發明人基于從事此類產品設計制造多年豐富的實務經驗及專業知識,并配合學理的運用,積極加以研究創新,以期創設一種新型的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,能夠改進一般現有的偵測射頻雜訊的裝置,使其更具有實用性。經過不斷的研究、設計,并經過反復試作樣品及改進后,終于創設出確具實用價值的本發明。
發明內容
有鑒于上述發明背景中,傳統的測試環境并未針對射頻雜訊進行偵測所產生的缺失,本發明的目的在于,克服現有的偵測射頻雜訊的裝置存在的缺陷,而提供一種新型的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,所要解決的技術問題是使其用來偵測射頻雜訊是否過量:當射頻雜訊未過量時,判定待測元件的測試結果是正確的;當射頻雜訊過量時,判定待測元件的測試結果是錯誤的,從而更加適于實用。
本發明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。依據本發明提出的一種用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其包括:一天線,用以接收該射頻雜訊;一比較器,電性連接該天線,用于接收該天線所接收的該射頻雜訊并輸出一訊號;一放大器,電性連接該比較器,用于放大該比較器的該訊號;以及一后級電路,電性連接該放大器,用于接收該訊號以警示該雜訊過量的情況。
本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的比較器外接一供應電壓VCC和一接地電壓(Ground,GND),使該比較器可將該雜訊轉換成該訊號并傳送至該放大器。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其還包括一馬達,其中該馬達連接該天線,是用于旋轉該天線來增加該天線接收的方向性。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其還包括一馬達,其中該馬達連接該自動偵測裝置,是用于旋轉該自動偵測裝置來增加該天線接收的方向性。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的后級電路是選自于由一計數器、一發光二極管(light?emitting?diode,LED)以及一蜂鳴器所組成的群組。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其還包括一阻抗,藉由控制該阻抗的大小用于控制該電壓放大器的輸出電壓以驅動該后級電路。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的天線是選自于由一傳統倒F型天線(Conventional?wire?element?IFA)、一平面倒F型天線(PlanarIFA)與一積體式倒F型天線(Integrated?IFA)所組成的群組。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的比較器為一射頻比較器。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的放大器為一電壓放大器。
前述的用于射頻雜訊的自動偵測裝置,其中所述的放大器為一反相放大器。
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