[發(fā)明專利]電子檢驗(yàn)裝置及檢測(cè)方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810001594.2
• 申請(qǐng)日: 2008-01-14
• 公開（公告）號(hào): CN101487844A
• 公開（公告）日: 2009-07-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林謙德;徐文忠;莊琮凱;王建華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 開物科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N33/76
• 分類號(hào): G01N33/76;G01N21/78;G01N33/558
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 張敬強(qiáng)

1.一種電子檢驗(yàn)裝置，包含：

檢驗(yàn)試紙，具有第一反應(yīng)線與第二反應(yīng)線；

電路板，配置光源、第一檢測(cè)器與第二檢測(cè)器，且前述光源介于前述第一 與第二檢測(cè)器之間；以及

遮光裝置，形成第一室、第二室與第三室，且前述第一與第二室之間形成 第一狹縫，前述第二與第三室之間形成第二狹縫；

其中，前述第一、第二與第三室分別罩遮前述第一檢測(cè)器、光源與第二檢 測(cè)器，且前述第一檢測(cè)器經(jīng)由該第一狹縫檢測(cè)該光源投射于該第一反應(yīng)線之反 射光，前述第二檢測(cè)器經(jīng)由該第二狹縫檢測(cè)該光源投射于該第二反應(yīng)線之反射 光；

其中前述第一反應(yīng)線為控制線，前述第二反應(yīng)線為檢測(cè)線；

其中前述遮光裝置形成第一窗與第二窗，且前述第一與第二反應(yīng)線分別對(duì) 準(zhǔn)前述第一與第二窗；

其中前述光源經(jīng)由該第一狹縫投射于前述第一窗；

其中前述光源經(jīng)由該第二狹縫投射于前述第二窗。

2.如權(quán)利要求1所述之電子檢驗(yàn)裝置，其中前述光源為發(fā)光二極管。

3.如權(quán)利要求2所述之電子檢驗(yàn)裝置，其中前述發(fā)光二極管發(fā)射綠光。

4.如權(quán)利要求2所述之電子檢驗(yàn)裝置，其中前述發(fā)光二極管發(fā)射黃綠光。

5.如權(quán)利要求1所述之電子檢驗(yàn)裝置，其中前述電路板配置控制器與顯 示器。

6.如權(quán)利要求5所述之電子檢驗(yàn)裝置，其中前述控制器接收前述第一與 第二檢測(cè)器之檢測(cè)信號(hào)，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)將檢驗(yàn)結(jié)果顯示于該顯示器。