[發明專利]電子裝置、電子裝置的測試方法

無效

• 申請號: 200780053311.2
• 申請日: 2007-06-12
• 公開（公告）號: CN101680923A
• 公開（公告）日: 2010-03-24
• 發明（設計）人: 矢越輝昭;除村均
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G01R29/02
• 分類號: G01R29/02;G01R31/28;G01R31/319
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 黃綸偉

技術領域

本發明涉及能夠進行用于測定裝置的特性的測試的電子裝置、電子 裝置的測試方法及制造方法等，該電子裝置例如是進行高速動作的集成 電路那樣的電子裝置。

背景技術

近年來，伴隨寬帶互聯網的普及，不僅要求網絡的高速化、大容量 化，而且在通信裝置、服務器、存儲器內也要求更高速的電子電路或電 子裝置。關于這種電子電路中的例如輸入輸出電路(I/O)開發了各種高 速I/O。其中，所說高速I/O指在被裝配到集成電路(LSI)中的輸入輸 出電路中具有數據速率為1Gbps以上的速度的輸入輸出電路，但在這種 高速I/O中，由于該高速動作，進行出廠測試比較困難。即，在想要使用 外部電路輸入測試信號時，能夠輸入的頻率(幾100MHz)和信號(DC 輸入)有限，所以作為高速I/O的測試不是有效的。因此，以往將BIST (built-in?self-test)電路嵌入集成電路中，只進行用于測試信號是否連通 的信號連通性的測試。

如果只進行信號連通度的測試，即使是在信號連通度的測試中被判 定為良好的元件，在被裝配到裝置中后，由于被裝配元件的特性和基板 的信號損失等，結果，有時不能實現信號的正常導通。另外，也想開發 不僅進行信號連通度的測試，也能夠測定輸入輸出信號的振幅或者確認 抖動容限的外部測試裝置，但因費用過高而變得不現實。

另外，關于抖動測定，公知有專利文獻1、2記載的技術，關于環回 測試，公知有專利文獻3記載的技術。

專利文獻1：日本專利第3724803號公報

專利文獻2：日本實開平5-41232號公報

專利文獻3：日本特開2004-328369號公報

發明內容

鑒于上述問題，本發明的其目的在于，提供一種電子裝置、電子裝 置的檢查方法等，該電子裝置裝配了能夠進行本裝置的測試的測定部。

為了達到上述目的，本發明的一個方式提供一種電子裝置，其特征 在于，所述電子裝置具有：接收信號的接收器；輸出信號的驅動器；以 及具有與所述接收器的輸入端連接的振幅檢測器的振幅測定部和具有與 所述接收器的輸出端連接的相位檢測器的抖動測定部中的至少一方，通 過將所述驅動器的輸出端和所述接收器的輸入端連接，進行驅動器輸出 的振幅和抖動中的至少一方的測定，所述抖動測定部的相位檢測器具有 用于輸入所述接收器的輸出的一個輸入端和用于輸入相位時鐘的另一個 輸入端，從所述電子裝置外部向所述一個輸入端輸入外部時鐘，進行所 述相位檢測器的校準。

另外，也能夠在本裝置內具有將所述驅動器的輸出端和所述接收器 的輸入端連接的環回電路，通過該環回電路來連接所述驅動器的輸出端 和所述接收器的輸入端。

另外，也可以具有控制所述驅動器的振幅的振幅控制器。并且，也 可以具有控制所述驅動器的延遲的延遲控制器。

也可以構成為具有將所述驅動器的輸出和來自外部的基準電壓進行 比較的第1電壓比較器，進行所述驅動器的輸出振幅的校準。

所述振幅測定部也可以構成為具有將與由所述振幅檢測器檢測到的 驅動器輸出振幅對應的電壓和來自外部的基準電壓進行比較的第2電壓 比較器，在進行所述驅動器的輸出振幅的校準后，通過所述環回電路將 驅動器的輸出輸入到所述振幅檢測器，根據所述第2電壓比較器的輸出 進行所述振幅檢測器的校準。

也可以構成為在進行所述相位檢測器的校準后，由所述延遲控制器 對驅動器輸出施加預定的抖動，并通過所述環回電路輸入到所述接收器， 將所述接收器的輸出輸入到所述相位檢測器的所述一個輸入端，由此進 行所述延遲控制器的校準。

根據本發明的第2方式，提供一種裝置，其特征在于，安裝了以上 說明的電子裝置中的至少一個電子裝置。