[發明專利]液晶顯示面板及其檢查方法有效
| 申請號: | 200780052593.4 | 申請日: | 2007-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN101652705A | 公開(公告)日: | 2010-02-17 |
| 發明(設計)人: | 木田和壽 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G01R31/00;G02F1/1345 |
| 代理公司: | 北京市隆安律師事務所 | 代理人: | 權鮮枝 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液晶顯示 面板 及其 檢查 方法 | ||
1.一種液晶顯示面板,由像素基板和對置基板夾持液晶層而 成,所述像素基板在絕緣性基板上具備多個像素電極和進行上述像 素電極的開關的開關元件,所述對置基板在絕緣性基板上具備對置 電極,所述液晶顯示面板的特征在于:
沿著上述像素基板的外周緣配設有第1檢查配線,
利用與該第1檢查配線的兩端電連接的第1檢查焊盤進行上述 第1檢查配線的電阻檢查,從而檢測在上述像素基板外緣產生的開 裂或裂紋,
沿著在上述像素基板的從外周緣向內周側設置的規定寬度的 允許區域的內周緣配設有第2檢查配線,
利用與該第2檢查配線的兩端電連接的第2檢查焊盤進行上述 第2檢查配線的電阻檢查,從而檢測在上述像素基板外緣產生的開 裂或裂紋是否是能允許的大小。
2.根據權利要求1所述的液晶顯示面板,其特征在于:
沿著上述對置基板的外周緣配設有第3檢查配線,
利用與該第3檢查配線的兩端電連接的第3檢查焊盤進行上述 第3檢查配線的電阻檢查,從而檢測在上述對置基板外緣產生的開 裂或裂紋。
3.根據權利要求2所述的液晶顯示面板,其特征在于:
上述第3檢查焊盤被設置在上述像素基板上。
4.根據權利要求2所述的液晶顯示面板,其特征在于:
沿著在上述對置基板的從外周緣向內周側設置的規定寬度的 允許區域的內周緣配設有第4檢查配線,
利用與該第4檢查配線的兩端電連接的第4檢查焊盤進行上述 第4檢查配線的電阻檢查,從而檢測在上述對置基板外緣產生的開 裂或裂紋是否是能允許的大小。
5.根據權利要求4所述的液晶顯示面板,其特征在于:
上述第4檢查焊盤被設置在上述像素基板上。
6.一種液晶顯示面板,是沿著分割線分割絕緣性基板而得到 的權利要求1所述的液晶顯示面板,其特征在于:
沿著在上述像素基板側絕緣性基板的上述分割線外周側設置 的規定寬度的允許區域的外周緣配設有第5檢查配線,并且
該第5檢查配線在分割線的交叉部附近與上述第1檢查配線連 接,
與該第5檢查配線的兩端電連接的第5檢查焊盤設置在比上述 分割線靠內周側,
利用上述第5檢查焊盤和上述第1檢查焊盤進行上述第5檢查配 線與上述第1檢查配線間的電阻檢查,從而檢測從分割線向外周側 產生的分割的偏差。
7.一種液晶顯示面板的檢查方法,用于檢查權利要求1所述的 液晶顯示面板,其特征在于:
包括對上述第1和第2檢查配線中的至少任意一個施加電壓的 電阻檢查工序,
在上述電阻檢查工序中,評價液晶顯示面板的缺陷水平,判定 是否進行光學檢查工序。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于夏普株式會社,未經夏普株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200780052593.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





