[發明專利]利用電流限制檢測器的電流限制控制

有效

• 申請號: 200780046276.1
• 申請日: 2007-10-12
• 公開（公告）號: CN101632210A
• 公開（公告）日: 2010-01-20
• 發明（設計）人: 約翰·蓀浩·蘇
• 申請（專利權）人: 先進模擬科技公司
• 主分類號: H02H9/02
• 分類號: H02H9/02
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 宋 鶴;南 霆

1.一種用于利用電流限制檢測器對電流限制進行控制的設備，包括：

電流限制控制器，該電流限制控制器包括多個經縮放晶體管，該多個經縮放晶體管適于基于控制信號驅動第一電流，所述控制信號是流經所述多個經縮放晶體管的電流的總和；

電流限制檢測器，該電流限制檢測器適于檢測用戶定義的電流限制，并響應于所述用戶定義的電流限制激活所述經縮放晶體管；以及

電流限制部分，該電流限制部分包括適于生成所述控制信號的放大器、預定大刻度的大刻度晶體管和預定小刻度的小刻度晶體管，其中所述預定大刻度和預定小刻度之間的比率被預設來控制分別流向所述小刻度晶體管和大刻度晶體管的小刻度電流和大刻度電流之間的比率，所述小刻度電流和大刻度電流由所述控制信號調節，所述放大器通過比較所述小刻度電流和所述用戶定義的電流限制來生成所述控制信號。

2.如權利要求1所述的設備，其中所述控制信號基于所述用戶定義的電流限制。

3.如權利要求1所述的設備，其中調節所述大刻度電流和小刻度電流的步驟包括：如果所述小刻度電流超過所述用戶定義的電流限制，則將所述小刻度電流減小到所述用戶定義的電流限制。

4.如權利要求1所述的設備，其中調節所述大刻度電流和小刻度電流的步驟包括：如果所述小刻度電流低于所述用戶定義的電流限制，則將所述小刻度電流維持在或者低于所述用戶定義的電流限制。

5.如權利要求1所述的設備，其中所述放大器是包括多個輸入端子的運算放大器，并且其中為了調節所述大刻度電流和小刻度電流，所述放大器還適于響應于在其輸入端子處施加的差分輸入電壓來產生所述控制信號，所述差分輸入電壓與所述大刻度電流和所述小刻度電流之間的差值成比例。

6.如權利要求5所述的設備，還包括電阻器，該電阻器耦合到并插入在所述放大器的輸入端子之間，并適于允許差分電流流過，所述差分電流?基于所述小刻度電流和所述用戶定義的電流限制，流過所述電阻器的所述差分電流產生所述差分輸入電壓。

7.如權利要求6所述的設備，其中所述電阻器包括電流感測電阻器。

8.如權利要求1所述的設備，其中所述放大器包括多個輸入端子，并且其中為了調節所述大刻度電流和小刻度電流，所述放大器還適于響應于在其輸入端子處施加的差分輸入電壓來產生所述控制信號，所述差分輸入電壓與所述大刻度電流和所述小刻度電流的總和成比例。

9.如權利要求1所述的設備，其中調節所述大刻度電流和小刻度電流的步驟是以取決于所述放大器的增益的步調執行的。

10.如權利要求1所述的設備，還包括電流限制轉換器，該電流限制轉換器耦合到所述小刻度晶體管的輸出端子。

11.如權利要求1所述的設備，該設備實現在集成電路(IC)中或者實現為集成電路中的功能塊。

12.如權利要求11所述的設備，其中所述集成電路適用于移動設備中。

13.如權利要求1所述的設備，其中所述經縮放晶體管中的至少一個具有與所述預定大刻度不同的刻度。

14.如權利要求1所述的設備，其中所述電流限制檢測器包括一個或多個經縮放電流限制開關，所述經縮放電流限制開關的刻度之一對應于所述經縮放晶體管的刻度之一。