[發(fā)明專利]光盤裝置以及光盤種類判定方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200780044658.0 | 申請日: | 2007-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN101568960A | 公開(公告)日: | 2009-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中野正規(guī);小川雅嗣;大久保修一 | 申請(專利權(quán))人: | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/004 | 分類號: | G11B7/004;G11B7/085 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光盤 裝置 以及 種類 判定 方法 | ||
1.一種光盤裝置,具有:
光頭部,其向旋轉(zhuǎn)的光盤的信息記錄面照射聚光束,所述信息記錄面包括:具有由引導(dǎo)槽或預(yù)制坑列所形成的軌道,且記錄所述光盤的管理信息的管理區(qū)域;和具有由引導(dǎo)槽或預(yù)制坑列所形成的軌道,且記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄區(qū)域;
驅(qū)動單元,其驅(qū)動所述光頭部來使所述聚光束在所述光盤的徑向方向上移動;
記錄面狀態(tài)判別單元,其根據(jù)所述聚光束的反射光來判別所述信息記錄面的狀態(tài);和
控制單元,其根據(jù)橫跨所述記錄面狀態(tài)判別單元所判別的所述管理區(qū)域和所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域而設(shè)定的判定區(qū)域內(nèi)的所述信息記錄面的狀態(tài),來判定所述光盤的種類。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置,其特征在于,
所述記錄面狀態(tài)判別單元,檢測所述聚光束掃描所述判定區(qū)域內(nèi)時所述反射光實際上無變化狀態(tài)持續(xù)一定時間以上的信號無變化期間的有無,并判別不存在由引導(dǎo)槽或預(yù)制坑列所形成的軌道的鏡像區(qū)域是否包含于前期判定區(qū)域內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置,其特征在于,
所述記錄面狀態(tài)判別單元,具有將所述反射光的光量與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值進行比較的比較單元,
當(dāng)表示所述比較單元的輸出所變動的次數(shù)的變動數(shù)超過規(guī)定的第一變動數(shù)時,判別為預(yù)制坑形成區(qū)域或記錄用戶數(shù)據(jù)的所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域,
當(dāng)所述變動數(shù)不滿足規(guī)定的第二變動數(shù)、并且所述反射光的光量超過所述規(guī)定的基準(zhǔn)值時,判定為所述鏡像區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置,其特征在于,
所述記錄面狀態(tài)判別單元,具有將所述反射光的光量與規(guī)定的基準(zhǔn)值進行比較的比較單元,
當(dāng)表示所述比較單元的輸出所變動的間隔的變動間隔不滿足規(guī)定的第一變動間隔時,判定為預(yù)制坑形成區(qū)域或記錄用戶數(shù)據(jù)的所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域,
當(dāng)所述變動間隔超過規(guī)定的第二變動間隔、且所述反射光的光量超過所述規(guī)定的基準(zhǔn)值時,判定為所述鏡像區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置,其特征在于,
所述反射光的變化是反射光遠場中的光量分布的變化,
所述記錄面狀態(tài)判別單元,根據(jù)軌道錯誤信號,
判別推挽式軌道錯誤信號為有效的區(qū)域是引導(dǎo)槽形成區(qū)域,
判別相位差軌道錯誤信號為有效的區(qū)域是預(yù)制坑形成區(qū)域,
判別反射光量分布的變化少、且推挽式軌道錯誤信號以及相位差軌道錯誤信號為無效的區(qū)域是所述鏡像區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求2~5的任意一項所述的光盤裝置,其特征在于,
所述光盤包括:第一光盤,其具有在所述管理區(qū)域與所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域之間在所述徑向方向上具有規(guī)定寬度的、圓環(huán)狀的所述鏡像區(qū)域;和所述管理區(qū)域與所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域相鄰的第二光盤,
所述控制單元,當(dāng)所述記錄面狀態(tài)判別單元在所述判定區(qū)域內(nèi)檢測出所述鏡像區(qū)域時判定為第一光盤,當(dāng)未檢測出所述鏡像區(qū)域時判定為所述第二光盤。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤裝置,其特征在于,
還具有:位置檢測單元,其查知所述光頭部的移動來檢測所述聚光束的位置,
所述第一光盤包括:第三光盤,其在規(guī)定的徑向方向的位置上具有所述鏡像區(qū)域;和第四光盤,其在比所述規(guī)定的徑向方向的位置更靠內(nèi)周側(cè)上具有所述鏡像區(qū)域,
所述控制單元,根據(jù)所述記錄面狀態(tài)判別單元檢測出所述鏡像區(qū)域時的所述聚光束的位置,來判定是所述第三光盤還是所述第四光盤。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤裝置,其特征在于,
還具有CAPA檢測單元,其檢測表示所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域的地址的CAPA頭的有無,
所述第一光盤包括:具有所述CAPA頭的第三光盤;和沒有所述CAPA頭的第四光盤,
所述控制單元,當(dāng)所述CAPA檢測單元在所述數(shù)據(jù)記錄區(qū)域檢測出所述CAPA頭時判定為第三光盤,當(dāng)未檢測出所述CAPA頭時判定為所述第四光盤。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于日本電氣株式會社,未經(jīng)日本電氣株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200780044658.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





