[發明專利]用于傳遞校準數據的系統和方法

無效

• 申請號: 200780036700.4
• 申請日: 2007-08-09
• 公開（公告）號: CN101523209A
• 公開（公告）日: 2009-09-02
• 發明（設計）人: R·D·謝爾
• 申請（專利權）人: 拜爾保健有限公司
• 主分類號: G01N33/487
• 分類號: G01N33/487
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李鎮江

1.一種用于確定流體樣本中的分析物濃度的測試系統，該測試系統包括：

傳感器容器，其具有基部和蓋子，所述傳感器容器適于在其中封入多個測試傳感，所述傳感器容器包括附著于其上的校準標簽，該校準標簽包括位于其上的多個電觸點，該電觸點適于將校準信息編碼在所述校準標簽上；以及

測試裝置，其具有位于其外部的自動校準組件，所述測試裝置適于確定所述流體樣本中的所述分析物濃度，所述自動校準組件包括適于與所述校準標簽上的所述多個電觸點通信的多個校準元件，

其中所述測試裝置適于響應于接合所述電觸點的所述校準元件而確定編碼在所述校準標簽上的所述校準信息，被編碼的校準信息在不將所述傳感器容器或所述校準標簽插入所述測試裝置的情況下被確定。

2.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述校準標簽附著到所述傳感器容器的蓋子。

3.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試裝置和所述自動校準組件形成數字電子電路。

4.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試裝置和所述自動校準組件形成模擬電子電路。

5.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述校準元件是從所述自動校準組件延伸的校準引腳。

6.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述自動校準組件包括一個或多個定位組件，該定位組件適于接合形成在所述校準標簽上的一個或多個標簽定位組件。

7.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述校準標簽具有對稱的形狀。

8.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述校準標簽具有不對稱的形狀。

9.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述多個測試傳感器是多個電化學測試傳感器。

10.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述多個測試傳感器是多個光學測試傳感器。

11.一種用于確定流體樣本中的分析物濃度的測試系統，該測試系統包括：

傳感器容器，其具有基部和蓋子，所述傳感器容器包括附著于其上的校準標簽，該校準標簽包括位于其上的多個電觸點，所述多個電觸點中的第一電觸點經由導電軌跡連接到第一環，所述多個電觸點中的第二電觸點經由導電軌跡連接到第二環，并且所述多個電觸點中的第三電觸點與所述第一環和所述第二環斷開，所述校準信息基于所述電觸點與所述第一環和所述第二環的連接和斷開而被編碼在所述校準標簽上；以及

測試裝置，其具有位于其外部的自動校準組件和位于其內部的微處理器，所述測試裝置適于確定所述流體樣本中的所述分析物濃度，所述自動校準組件包括適于與所述校準標簽上的多個電觸點通信的多個校準元件，所述微處理器適于響應于接合所述測試裝置外部的所述多個校準元件的所述多個電觸點而確定編碼在所述校準標簽上的校準信息。

12.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述測試裝置進一步包括位于其中的存儲裝置，該存儲裝置與所述微處理器通信，該存儲裝置適于存儲查找表，該查找表中具有預定義的校準代碼。

13.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述測試裝置和所述自動校準組件形成數字電子電路。

14.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述測試裝置和所述自動校準組件形成模擬電子電路。

15.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述多個校準元件是從所述自動校準組件延伸的校準引腳。

16.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述校準標簽包括感測觸點，所述多個電觸點一般置于圍繞所述感測觸點，該感測觸點適于被形成在所述自動校準組件上的感測引腳接合，所述感測觸點和所述感測引腳適于通知所述微處理器所述多個校準元件與所述多個電觸點接合。

17.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述測試裝置是集成儀表。

18.根據權利要求11所述的測試系統，其中所述多個電觸點中的所述第三電觸點表示所述校準標簽的索引位置。