[發(fā)明專利]半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200780034062.2 | 申請日: | 2007-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN101517715A | 公開(公告)日: | 2009-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 佐澤洋幸;西川直宏;秦雅彥 | 申請(專利權(quán))人: | 住友化學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類號: | H01L21/316 | 分類號: | H01L21/316;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/78;H01L29/812 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 朱 丹 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 外延 結(jié)晶 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,向通過有機(jī)金屬氣相生長法生長的氮化物半導(dǎo)體結(jié)晶層表面,賦與構(gòu)成鈍化膜或柵極絕緣膜并具有非結(jié)晶形的氮化物電介質(zhì)或氧化物電介質(zhì)的電介質(zhì)層,其中,
在外延生長爐內(nèi)使所述氮化物半導(dǎo)體結(jié)晶層生長之后,直接在該外延生長爐內(nèi)使所述電介質(zhì)層與所述氮化物半導(dǎo)體結(jié)晶層連續(xù)生長。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
使用有機(jī)金屬作為金屬原料,使用乙醚或水作為氧原料,使用氨作為氮原料,并利用有機(jī)金屬氣相生長法使電介質(zhì)層生長。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
電介質(zhì)層的至少一部分的生長為邊供給作為5族原料的氨邊進(jìn)行。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
電介質(zhì)層的至少一部分的生長通過使用氮作為載氣來進(jìn)行。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
電介質(zhì)層包括從AlOx、AlOx∶N(0.5<x<1.5)、SiO2、SiO2∶N、Ga2O3、Si3N4、HfO2、HfxAlyO3(0<x<1、y=2-1/2x)、HfxAlyO3∶N(0<x<1、y=2-1/2x)、GdO、ZrO2、MgO、Ta2O5中選擇的至少一種電介質(zhì)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
電介質(zhì)層包括從Al2O3、Al2O3∶N、SiO2、SiO2∶N、Ga2O3、Si3N4、HfO2、HfxAlyO3(0<x<1、y=2-1/2x)、HfxAlyO3∶N(0<x<1、y=2-1/2x)、GdO、ZrO2、MgO、Ta2O5中選擇的至少一種電介質(zhì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板的制造方法,其中,
半導(dǎo)體外延結(jié)晶基板用于場效應(yīng)晶體管。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





