[發明專利]用于電特性斷層攝影的電場勻場

有效

• 申請號: 200780014657.1
• 申請日: 2007-04-03
• 公開（公告）號: CN101438182A
• 公開（公告）日: 2009-05-20
• 發明（設計）人: U·卡切爾;P·韋爾尼科爾;M·漢夫特
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01R33/48
• 分類號: G01R33/48;A61B5/053
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 王 英

1.一種磁共振成像設備(8)，包括：

用于在檢查區域(14)內生成射頻激勵脈沖的射頻線圈系統(34)，所 述射頻線圈系統(34)包括N個生成磁場(H)和電場(E)的線圈元件(38)， 其中，N為復數；

權數設置裝置(54)，其為所述線圈元件(38)的輸入信號設置加權因 子；

發射系統(52)，其產生至少兩組RF脈沖，每組采用不同加權的輸入 信號而產生，并將所述至少兩組RF脈沖發射至所述線圈元件(38)，從而 使所發射的RF脈沖組中的每組生成具有彼此移位零交叉點(120，122)的 移位電場(110，112)；以及

圖像處理器(62)，其根據由具有不同加權的所述至少兩組RF脈沖誘 發的共振計算電容率ε圖(142)，所述圖像處理器(62)包括：

保存采用所述RF脈沖組生成的電容率ε圖的存儲器裝置(152， 154)；

算法或處理器(140)，其對來自所述RF脈沖組的所述電容率ε圖 進行組合，以生成針對如下區域進行了校正的電容率ε圖(142)，所述區域 是所述電容率ε圖之一中電場接近零的區域。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，所述電容率ε與所計算的值不 等于零的總電場(E)的z分量的倒數成比例，從而按照下式計算整個視場 的所述電容率分布：

其中，表示由N個線圈元件生成的x分量的總磁場，

表示由N個線圈元件生成的y分量的總磁場，

表示由N個線圈元件生成的所述z分量的總電場，

ω是Larmor(拉莫爾)頻率，

r表示所述視場中的坐標，和

ε是所述電場的復電容率。

3.根據權利要求2所述的設備，其中，所述z分量的總電場為：

其中，Aⁿ表示所述線圈元件的加權因子，

表示由N個線圈元件生成的所述z分量的總電場，

表示所述線圈元件的電場，

r表示所述視場內的坐標。

4.根據權利要求1所述的設備，其中，所述圖像處理器(62)包括：

電容率圖計算裝置(140)，其使移位電場(110，112)疊加，以接收 總電場的非零值，并根據所述疊加后的數據計算電容率ε圖(142)。

5.根據權利要求1所述的設備，其中，通過所述發射系統(52)的信 道獨立驅動所述線圈系統(34)的每個元件(38)，從而向所述檢查區域(14) 有選擇地施加RF脈沖，以生成具有激勵極化定向的圓極化磁感應場。

6.根據權利要求5所述的設備，其中，所述線圈系統(34)的每個元 件(38)為獨立的接收元件，所述獨立的接收元件連接至接收器(56)的 信道，從而采用接收極化定向對所接收的圓極化磁感應場的MR信號進行 解調。

7.根據權利要求1所述的設備，其中，所述線圈系統(34)包括RF 線圈(36)，所述RF線圈(36)包括多個平行于主磁場(B₀)延伸的共振 器(38)。

8.根據權利要求1所述的設備，其中，所述圖像處理器(62)包括：

計算所述成像對象內的電導率分布的電導率圖計算處理器(160)。

9.一種用于確定對象(16)的至少一種電磁特性的方法，所述方法包 括：

(a)為每個獨立的射頻線圈元件(38)的輸入信號設置加權因子；

(b)將具有所設置的加權因子的RF脈沖發射至對應的線圈元件(38)， 以生成共振數據組；

(c)采用不同的加權因子重復步驟(a)和(b)，從而使零電場交叉 點(120，122)發生移位；以及

(d)疊加所述移位電場；

(e)計算值不等于零的總電場強度分布的z分量值；以及

(f)根據所述疊加后的數據計算所述對象中的電容率分布。