[發明專利]針對質譜儀的離子能量分散的減少

有效

• 申請號: 200780012902.5
• 申請日: 2007-04-13
• 公開（公告）號: CN101421817A
• 公開（公告）日: 2009-04-29
• 發明（設計）人: A·馬卡洛夫;M·蒙娜絲泰斯崎;D·E·格林菲爾德
• 申請（專利權）人: 塞莫費雪科學（不來梅）有限公司
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 侯穎媖

1.一種減少特定和有限質荷比范圍上的離子的能量分散的方法，所述方法 包括以下步驟：

(a)使用減速電極裝置產生具有電場強度E的電場；

(b)將所述質荷比范圍的具有能量分散的離子導向由所述減速電極裝置 產生的所述減速電場；以及

(c)一旦所述特定質荷比范圍的所有所述離子都已進入所述減速電場，就 去除所述減速電場；

其中所述電場強度E與進入所述電場的所述離子的能量分散匹配以減小所 述離子的所述能量分散。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在將離子導向所述減速 電場的所述步驟(b)之前的步驟：

在能量上散射所述離子。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在能量上散射所述離子的所述 步驟包括將所述離子引導到離子反射鏡裝置、將離子反射出所述離子反射鏡裝 置內的離子反射鏡、以及引導所述離子離開反射鏡裝置返回。

4.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在能量上散射所述離子的所述 步驟包括沿著細長的飛行路徑引導所述離子。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在減速電極裝置上差動 地抽吸以使得其入口處的壓力不同于其出口處的壓力。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在將離子引導到所述減 速電場之前從離子光學裝置或質量分析裝置噴射離子。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述離子光學裝置或質量分析 裝置包括適于在不同的時間噴射不同質荷比的離子的裝置。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述離子光學裝置或質量分析 裝置選自靜電阱(EST)、以共振噴射模式工作的軌道阱、三維(3D)阱、放 射性噴射的線性阱、軸噴射的線性阱、或飛行時間質譜儀。

9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括將能量分散已被減少的 所述離子引導到碎裂或碰撞室。

10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括將能量分散已被減少 的所述離子引導到以下的一個或多個：靜電透鏡、多極子、磁透鏡、磁扇區、 靜電扇區、四極濾質儀、反射鏡、飛行時間質譜儀、電磁阱或3D阱。

11.如權利要求1所述的方法，其特征在于，切斷所述場的所述步驟包括 在25微秒或更短時間內切斷所述場。

12.如權利要求11所述的方法，其特征在于，切斷所述場的所述步驟包括 在19到25微秒之間的時間內切斷所述場。

13.一種用于減小特定和有限質荷比范圍上的離子的能量分散的離子減速 裝置，包括：

用于產生具有電場強度E的電場的減速電極裝置，所述減速電極裝置包括 一個或多個減速電極；

用于提供電壓給所述一個或多個減速電極的電壓源；以及

電壓控制器，配置成開關所述電壓源以在在將所述質荷比范圍的具有能量 分散的離子引導到由所述減速電極裝置產生的所述減速電場之后和一旦所述 特定質荷比范圍的所有所述離子都已進入所述減速電場時去除所述減速電場；

其中所述控制器和/或所述電壓源被配置成產生與進入所述電場的所述離 子的能量分散相匹配以減少所述離子的所述能量分散的電場強度E。

14.如權利要求13所述的裝置，其特征在于，還包括置于所述離子減速裝 置上游的離子能量分散裝置。

15.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述離子能量分散裝置包括 離子反射鏡組件，具有用于將接收到所述離子反射鏡組件的離子反射回去的離 子反射鏡。

16.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述離子能量分散裝置包括 細長的飛行路徑。

17.如權利要求13所述的裝置，其特征在于，所述減速電極裝置置于差動 抽吸外殼內。