[發(fā)明專利]具有可控參考物質(zhì)供應(yīng)的微電子器件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200780008907.0 | 申請日： | 2007-03-05 |
| 公開（公告）號： | CN101400445A | 公開（公告）日： | 2009-04-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | J·A·H·M·卡爾曼;M·W·J·普林斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號： | B01L3/00 | 分類號： | B01L3/00;F15C5/00 |
| 代理公司： | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人： | 陳松濤 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 具有 可控 參考 物質(zhì) 供應(yīng) 微電子 器件 | ||
1、一種用于操縱化驗物質(zhì)(1，2，3，21，22，23)的微電子器件(100)， 包括：
a)樣品室(5)，可以在其中提供所述化驗物質(zhì)(1，2，3，21，22， 23)；
b)供應(yīng)單元(20)，用于以受控方式從儲藏器向所述樣品室(5)中釋 放參考物質(zhì)(21，22，23)。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，所述儲藏器位于所述樣品室(5)中。
3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，所述供應(yīng)單元(20)包括場發(fā)生器，尤其是集成到所述 微電子器件(100)的襯底中的電極(24)，用于在所述儲藏器中產(chǎn)生磁場 和/或電場。
4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，所述儲藏器被一種材料覆蓋，俘獲膜或薄片，可以通過 在所述儲藏器中的參考物質(zhì)(21，22，23)上施加排斥力以使所述膜或薄 片破裂或?qū)⑵淙コ?
5、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，包括至少一個引導(dǎo)電極，所述引導(dǎo)電極用于產(chǎn)生磁場或 電場，所述磁場或電場能夠?qū)⒋沤换セ螂娊换ヮw粒從所述儲藏器引導(dǎo)到所 述樣品室(5)中的目標(biāo)位置。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的微電子器件(100)，
其特征在于，包括若干這種引導(dǎo)電極以及用于依次激活它們的控制器。
7、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，為所述供應(yīng)單元(20)的儲藏器供應(yīng)參考物質(zhì)(21，22， 23)。
8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，包括用于測量所述化驗物質(zhì)(1，2，3，21，22，23)的 特性特征的傳感器單元(10)。
9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的微電子器件(100)，
其特征在于，所述傳感器單元(10)包括用于在所述樣品室(5)中產(chǎn) 生磁場的磁場發(fā)生器(11，13)和磁性傳感器元件(12)。
10、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)，
其特征在于，所述樣品室(5)具有入口，所述入口用于為所述樣品室 (5)提供所述化驗物質(zhì)或其成分(1，2)。
11、一種用于操縱樣品室(5)中的化驗物質(zhì)(1，2，3，21，22，23) 的方法，包括從儲藏器向所述樣品室(5)中受控釋放已知量的參考物質(zhì)(21， 22，23)。
12、根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，
其特征在于，包括用傳感器單元(10)測量所述化驗物質(zhì)(1，2，3， 21，22，23)的特性特征。
13、根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，
其特征在于，所述化驗物質(zhì)包括磁交互或電交互的標(biāo)記顆粒(2)，所 述標(biāo)記顆粒(2)可結(jié)合到或已結(jié)合到所述化驗物質(zhì)的目標(biāo)成分(1)。
14、根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，
其特征在于，包括基于所述參考物質(zhì)(21，22，23)的受控釋放而對 所述傳感器單元(10)進(jìn)行誤差檢查和/或校準(zhǔn)。
15、根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，
其特征在于，在已經(jīng)將所述化驗物質(zhì)或其成分(1，2)引入所述樣品 室(5)之后的預(yù)定時間進(jìn)行所述參考物質(zhì)(21，22，23)的所述釋放。
16、根據(jù)權(quán)利要求1所述的微電子器件(100)或根據(jù)權(quán)利要求11所 述的方法，
其特征在于，所述樣品室(5)的表面(14)包括用于固定所述化驗物 質(zhì)的目標(biāo)成分(1，2，21，22)的結(jié)合位置(3)。
17、根據(jù)權(quán)利要求16所述的微電子器件(100)或方法，
其特征在于，所述參考物質(zhì)包括可以被所述結(jié)合位置結(jié)合的參考目標(biāo) 成分(21)。
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