[發明專利]電子儀器用試驗裝置以及電子儀器用試驗箱

無效

• 申請號: 200780007660.0
• 申請日: 2007-12-12
• 公開（公告）號: CN101395485A
• 公開（公告）日: 2009-03-25
• 發明（設計）人: 長嶋道夫;內田勝也;山本克史
• 申請（專利權）人: 日本輕金屬株式會社
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R29/10;H05K9/00
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司
• 代理人: 龍 淳

技術領域

本發明涉及一種用來對移動電話等電子儀器進行試驗的電子儀器用試驗裝置以及電子儀器用試驗箱。

背景技術

一般情況下，對于移動電話等電子儀器在制造后和修理后是否能夠正常動作，有時利用無線電波進行無線連接試驗(以下稱作試驗)。過去，為了進行正確的接收能力的試驗，而在外來電波被屏蔽的被稱作電波無聲室(電波暗室)的大型的特殊的房間、或者被稱作屏蔽盒(電波屏蔽箱)的箱子內部進行這種試驗。

例如，在下述文獻1中公開了一種屏蔽盒，其包括：具有用來反射電波的鋁制內框體的框架體；以及固定有用于放置移動電話的托盤的、用于關閉形成于框體上的開口部的前面板，并且包括：在前面板的外周設置的U字深槽；在內框體的開口部上設置的并且與U字深槽嵌合而形成電波迷路的隔板；在隔板的外周設置的銷；在固定在隔板內周的L字角鋼以及在前面板的U字深槽的底部分別設置的EMI襯墊。

另外，例如，在下述文獻2中公開了一種電子儀器用試驗箱，它主要具備：具有開口部的試驗箱主體、具有在玻璃的一面形成ITO(Indium?Tin?Oxide：氧化銦錫)膜的窗戶的自如開閉的箱門(合頁式)、以及在試驗箱主體的上表面設置的電纜布線用波導管。

該電子儀器用試驗箱主要配備：在金屬框體的內側設置電波吸收結構的試驗箱主體、被固定試驗箱主體正面一側的兩根手插入用的波導管、以及設有在一面上形成ITO(Indium?Tin?Oxide：氧化銦錫)膜的玻璃板的窗戶。這種電子儀器用試驗箱具有實驗員可一邊觀察試驗箱主體內部的電子儀器，一邊用手直接操作進行試驗的優點。

專利文獻1、日本特開2005-252015號公報

專利文獻2、日本特開2006-153841號公報

但是，近年以來，隨著電子儀器的高性能化、高靈敏度化等，越來越需要一種不僅電波屏蔽性好、能夠可靠屏蔽外來電波，并且能夠精密地進行電子儀器試驗的電波屏蔽性好的電子儀器用試驗裝置以及電子儀器用試驗箱。

前述專利文獻1中所述的屏蔽盒，當將移動電話載放在托盤上，滑動前面板進行關閉時，銷與U字深槽的側面抵接，在隔板內周設置的EMI襯墊與前面板抵接，在U字深槽底部設置的EMI襯墊與隔板的頂端部抵接，由此，可以采用三重的屏蔽構造來屏蔽通過前面板與隔板的縫隙的電波。

但是，在前述文獻2中所述的具有合頁式箱門的電子儀器用試驗箱中，僅具有在試驗箱主體與箱門的抵接部分配備EMI襯墊和導電橡膠襯墊等的電波屏蔽構造，無法良好地適應近幾年來需求的電波屏蔽性能。另外，在電波暗室這樣的大型房間(試驗室)的門上應用專利文獻1中所述的電波屏蔽構造(箱門構造)并不現實。

另外，為了提高文獻2中所述的電子儀器用試驗箱(試驗箱主體)的電波屏蔽性，必須在設在窗戶上的玻璃板上形成厚的具有電波屏蔽性(反射性)的ITO膜，必須在玻璃板的兩面形成ITO膜。

此處，通過在玻璃板上形成厚的ITO膜，或者在玻璃板的兩面形成ITO膜，于是，玻璃板的電波屏蔽性(反射性)提高，因此，能夠提高試驗箱主體的電波屏蔽性。但是，因這種玻璃板對可視光的透過性下降，故出現試驗箱主體的內部變暗，作為窗戶本來作用的可視性下降，試驗箱主體內部的電子儀器難以觀察這樣的問題。

發明內容

為了解決這些問題，本發明的技術課題在于，提供一種使試驗箱(試驗室)的電波屏蔽性能提高了的能夠精密地進行電子儀器的試驗的電子儀器用試驗裝置，并提供一種即便在玻璃板上形成厚的ITO膜的情況下或者在玻璃板的兩面形成ITO膜的情況下，也能良好地觀察試驗箱主體內部的電子儀器的可視性高的電子儀器用試驗箱。

為了解決上述技術課題，本發明涉及的電子儀器用試驗裝置，包括：內部放置電子儀器并具有連通外部與內部的至少一個開口部的試驗箱、以及通過合頁安裝在該試驗箱上，用于開閉開口部的箱門，其特征在于，還包括安裝在作為試驗箱與箱門的抵接部分的試驗箱的開口邊緣部或者箱門的周邊部的金屬制的銷、以及安裝在箱門的周邊部或者試驗箱的開口邊緣部的具有電波屏蔽性的襯墊。

根據這種電子儀器用試驗裝置，當關閉箱門時，金屬制的銷與箱門的周邊部(或者試驗箱的開口邊緣部)抵接，同時，具有電波屏蔽性的襯墊與試驗箱的開口邊緣部(或者箱門的周邊部)抵接。于是，試驗箱與箱門的縫隙便被塞住，因此，從試驗箱與箱門的抵接部分侵入的電波在銷和襯墊處產生衍射損耗，結果，能夠有效地屏蔽從接觸部分侵入的電波。

此處所說的衍射損耗是指，因電波被金屬制的銷等反射，故難以向電波的前進方向一側(在此情況下是試驗箱的內部一側)傳播。