[發明專利]具有納米管晶體管存取裝置的存儲器無效
| 申請號: | 200780004966.0 | 申請日: | 2007-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN101379565A | 公開(公告)日: | 2009-03-04 |
| 發明(設計)人: | 羅納德·卡科斯奇科;托馬斯·尼爾希 | 申請(專利權)人: | 奇夢達股份公司 |
| 主分類號: | G11C13/02 | 分類號: | G11C13/02 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 章社杲;吳貴明 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 納米 晶體管 存取 裝置 存儲器 | ||
1.一種存儲單元,包括:
存儲元件;以及
納米管晶體管,所述納米管晶體管與所述存儲元件接觸 以存取所述存儲元件。
2.根據權利要求1所述的存儲單元,其中,所述存儲元件包括相 變存儲元件。
3.根據權利要求1所述的存儲單元,其中,所述存儲元件包括后 段制程的存儲元件。
4.根據權利要求1所述的存儲單元,其中,從包括磁阻存儲元件、 傳導橋接存儲元件、鐵電存儲元件、懸臂存儲元件和聚合物存 儲元件的組中選擇所述存儲元件。
5.根據權利要求1所述的存儲單元,其中,所述納米管晶體管包 括碳納米管(CNT)晶體管。
6.一種存儲器,包括:
第一導線;
第一存儲元件,所述第一存儲元件耦合至所述第一導線;
第一納米管晶體管,所述第一納米管晶體管具有源-漏通 路,所述源-漏通路的第一側與所述第一存儲元件接觸;
第一字線,所述第一字線耦合至所述第一納米管晶體管 的柵極;以及
第二導線,所述第二導線耦合至所述第一納米管晶體管 的所述源-漏通路的第二側。
7.根據權利要求6所述的存儲器,其中,在所述第一字線上施加 第一信號使所述第一納米管晶體管導通,以在所述第一導線和 所述第二導線之間傳送第二信號,從而存取所述第一存儲元 件。
8.根據權利要求6所述的存儲器,其中,所述字線相對于所述第 一導線和所述第二導線成一定角度。
9.根據權利要求6所述的存儲器,其中,所述字線基本與所述第 一導線和所述第二導線中的一個平行。
10.根據權利要求6所述的存儲器,還包括:
第二納米管晶體管,所述第二納米管晶體管具有源-漏通 路,所述源-漏通路的第一側耦合至所述第二導線;
第二字線,所述第二字線耦合至所述第二納米管晶體管 的柵極;
第二存儲元件,所述第二存儲元件與所述第二納米管晶 體管的所述源-漏通路的第二側接觸;以及
第三導線,所述第三導線耦合至所述第二存儲元件。
11.根據權利要求10所述的存儲器,其中,所述第一導線基本與 所述第三導線平行,并基本與所述第二導線垂直。
12.根據權利要求10所述的存儲器,其中,所述第一導線基本與 所述第一字線以及所述第二字線垂直。
13.根據權利要求10所述的存儲器,其中,所述第一導線、所述 第一字線、所述第二導線、所述第二字線和所述第三導線分別 位于不同的平行的平面內。
14.根據權利要求10所述的存儲器,其中,所述第一導線和所述 第三導線位于第一平面內,以及其中,所述第一字線、所述第 二導線和所述第二字線位于第二平面內,所述第二平面與所述 第一平面隔開并與所述第一平面平行。
15.一種存儲器,包括:
第一導線;
第一存儲元件,所述第一存儲元件耦合至所述第一導線;
第一納米管晶體管,所述第一納米管晶體管具有源-漏通 路,所述源-漏通路的第一側與所述第一存儲元件接觸;
第二導線,所述第二導線耦合至所述第一納米管晶體管 的所述源-漏通路的第二側;
第二存儲元件,所述第二存儲元件耦合至所述第一導線;
第二納米管晶體管,所述第二納米管晶體管具有源-漏通 路,所述源-漏通路的第一側與所述第二存儲元件接觸;
第三導線,所述第三導線耦合至所述第二納米管晶體管 的所述源-漏通路的第二側;以及
字線,所述字線耦合至所述第一納米管晶體管的柵極和 所述第二納米管晶體管的柵極。
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