[發明專利]光學傾角傳感器無效
| 申請號: | 200780000628.X | 申請日: | 2007-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN101326423A | 公開(公告)日: | 2008-12-17 |
| 發明(設計)人: | 托斯騰·威匹耶斯基 | 申請(專利權)人: | 香港應用科技研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 深圳創友專利商標代理有限公司 | 代理人: | 江耀純 |
| 地址: | 中國香港新界沙田香港*** | 國省代碼: | 中國香港;81 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 傾角 傳感器 | ||
1.一種光電設備,包括一個光源和一個光探測器,該光源適合地發出一個光束,隨后被反射到該光探測器,該光探測器適合地接收光束,該光探測器包括多個離散光探測區,這些光探測區被安排成多個光探測組別,每個光探測組別包括至少兩個光探測區,光探測區將光束轉換成電能,光探測區被布置成,使得光探測器的電特性取決于一個入射光束在多個光探測組別上的照射面積的相關分布。
2.根據權利要求1所述的光電設備,其中所述電特性包括電輸出,其中在每單位光照射面積上的每個所述多個光探測區的電輸出是相同的。
3.根據權利要求1所述的光電設備,其中光源被光探測器的多個光探測區圍住。
4.根據權利要求3所述的光電設備,其中光源位于光探測區的中央。
5.根據權利要求1所述的光電設備,其中光源包括一個發光表面,發光表面的表面積比光探測器的一個光探測區的表面積小。
6.根據權利要求1所述的光電設備,其中從光源發出的光束是從光源發散的,使得反射之后照射到光探測器上時,反射光束的印跡超過光源的印跡。
7.根據權利要求1所述的光電設備,其中多個光探測區被安排成兩個光探測組別,其中當一個光束平均地或對稱地入射到此兩個光探測組別上時,此兩個光探測區組別的電輸出是相等的。
8.根據權利要求7所述的光電設備,其中此兩個光探測組別被布置成,使得一個光探測組別的電輸出是最大值時,另一個光探測組別的電輸出是最小值,反之亦然。
9.根據權利要求1所述的光電設備,其中光探測區被分成兩個光探測組別,此兩個光探測組別被布置成,使得此兩個光探測組別的電輸出是不相等的,除非當發射光束和反射光束有一個共同光軸。
10.根據權利要求9所述的光電設備,其中此兩個光探測組別被布置成,使得發射和發射光束之間的角偏差會引起此兩個光探測組別之間電輸出上的差別。
11.根據權利要求9所述的光電設備,其中光探測區被布置成,使得當一個反射光束正常入射到光探測區上時,此兩個光探測組別的電輸出是相等的。
12.根據權利要求1所述的光電設備,其中光探測區包括被正十字分開的四個光探測區,光源位于正十字的中央。
13.一種用來測量物體傾斜的光電裝置,本裝置包括一個用來發射光束到物體的光源和一個用來探測從物體反射的光的光探測器,光探測器包括多個光探測區,這些光探測區被安排成多個光探測組別,每個光探測組別包括至少兩個光探測區,光探測區將光轉換成電能,且被布置成,使得光探測器的電輸出取決于一個入射光束在多個光探測組別上的照射面積的相關分布,并隨著發射和反射光束之間的角偏差而變化。
14.根據權利要求13所述的光電裝置,其中光探測器被布置成,使得光探測器的電輸出隨著發射和反射光束之間角偏差的增加而增加。
15.根據權利要求13所述的光電裝置,還包括將光探測器的電輸出和發射和反射光束之間角偏差相互關聯的裝置。
16.根據權利要求15所述的光電裝置,還包括將物體距離和電輸出相互關聯的裝置。
17.根據權利要求13所述的光電裝置,其中光探測器包括兩組將光轉換成電能的光探測區,光探測區被布置成,使得此兩組光探測區的電輸出是不相等的,除非當發射和反射光束是在一個預定角偏差上。
18.根據權利要求17所述的光電裝置,其中預定角偏差是零。
19.根據權利要求17所述的光電裝置,其中光探測區的電輸出服從差分或迭加(superimpositional)處理,因此,差分或迭加(superimpositional)處理的最小值和最大值分別出現在預定角偏差上。
20.根據權利要求19所述的光電裝置,其中光源和光探測器是在一個公共支撐結構上形成。
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