[實用新型]用于物體相對基底或與基底一起的定位或定向的裝置有效
| 申請號: | 200720305343.4 | 申請日: | 2007-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN201252679Y | 公開(公告)日: | 2009-06-03 |
| 發明(設計)人: | 克里斯托弗·莫澤;盧祖博米爾·馬雷爾杰科 | 申請(專利權)人: | 奧特斯(中國)有限公司 |
| 主分類號: | H05K3/00 | 分類號: | H05K3/00;G01S17/02 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 沈英瑩 |
| 地址: | 201108上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 物體 相對 基底 一起 定位 定向 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種用于使物體相對于基底或與基底一起的定位或 定向的裝置,其中設有至少一個用于在待定位的物體的至少一個標記的 區域中照射物體的光源和一個接收裝置,該接收裝置接收由所述待定位 的物體和/或基底反射的光,基于所述被接收的反射射線來確定所述物體 的位置和/或對所述物體的位置或方向進行校正。
背景技術
盡管下面將主要借助實施例特別是結合對印制電路板的制造或加工 詳細地說明本實用新型,但還是需要說明,本實用新型通常可在用于使 物體相對于或與基底一起或者保持或支撐裝置的定位或定向的方法以及 裝置上使用,其中利用必要時不同波長的光進行照射之后,由物體或支 撐物體的基底或支撐裝置反射的光被接收在接收裝置中,并對物體相對 于基底或與基底一起相對于加工機器的定位或定向進行校正。這種方法 和裝置可應用于很多場合,在這些場合中要對工件進行高精度的加工, 例如鉆孔過程、剪裁過程、蝕刻過程等。此外例如在曝光過程和裝配過 程中,精確的定向和定位也很重要。
與印制電路板的制造或加工相關地,例如對于待進行的鉆孔過程、 特別是激光鉆孔過程來說公知的是,在印制電路板上或者在具有多個印 制電路板的基本上板狀的部件上設置標記,接著電路板或通常板狀的部 件被輸送給加工工位,并在該工位上通過設置通常至少兩個標記而相對 于基底或者與形成基底的保持或支撐裝置一起移動并被校準,以便在后 續過程中例如根據計算機控制的鉆孔程序在印制電路板上或通常板狀的 部件上設置出多個待精確設置的孔,這些孔例如在后續的加工步驟中用 于連接印制電路板的各個部件、用于裝配附加部件或者用于接觸印制電 路板的不同的層。
迄今為止,與這樣的定向或定位過程相關地通常如下地進行,即光、 例如相應地成束的光在一個或多個標記的區域中指向或射到待定位的物 體、例如印制電路板上,并且利用接收裝置將由印制電路板或通常待定 位的物體反射的光和在設置例如完全穿透待定位的物體的孔狀的標記的 情況下由基底反射的光接收在接收裝置中,必要時進行自動的圖像處理, 以便確定待定位的物體相對于基底的位置或方向,必要時調整或校正為 預先給定值,以便能夠進行后續的加工過程,例如以相應高的精度進行 鉆孔過程。
在這種公知的接收反射光并如此地確定待定位的物體的位置和方向 的相關方法和裝置具有如下缺點,即待定位的物體、特別是印制電路板 或具有多個印制電路板的板狀的部件至少局部設有反射的表面,從而很 難或無法產生待定位的物體的包圍標記的區域相對于標記或在設有貫通 的孔狀的標記的情況下相對于基底的相應良好的對比,該基底例如具有 用于產生足夠的對比的亮色或白色,因為無法通過相應的精度在由待定 位的物體的反射的表面反射的光或散射的光和由標記或位于標記下面的 基底反射的光之間進行區分,而這種區分應為確定物體的定位或定向提 供基礎依據。
特別是與例如對于制造或加工印制電路板要求的高精度相關地,在 考慮局部具有非常小的尺寸的部件的情況下,這些部件在后續過程中例 如將被連接或接觸,待安裝的部件或例如待制造的孔的、這樣待設置的 小的尺寸由此出發,即在使用公知的方法和裝置的情況下,得到相應大 份額的未相應精確地加工的、在此特別是未足夠精確地校正的物體并由 此產生大量廢品。此外在嚴重的錯誤定向或誤對準時還會導致生產中斷, 因為控制設備在這種情況下通常會使生產處于停頓狀態。
實用新型內容
因此本實用新型的目的在于,避免在開頭所述類型的裝置中的前述 問題,并對開頭部分所述類型的裝置進行如下改進:即一種用于使物體 相對于基底或與基底一起的定位或定向的裝置,其中設有至少一個用于 在待定位的物體的至少一個標記的區域中照射物體的光源和一個接收裝 置,該接收裝置接收由所述待定位的物體和/或基底反射的光,并且基于 所述被接收的反射射線來確定所述物體的位置和/或對所述物體的位置 或方向進行校正,設有一個接收裝置,該接收裝置用于有選擇地接收相 對于照射到所述物體上的光波長改變的光,在待定位或待定向的物體的 標記的區域中通過使用發熒光的材料反射所述波長改變的光。
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