[實用新型]一種壓制x－射線熒光分析測試樣片的樣品托

有效

• 申請號: 200720190855.0
• 申請日: 2007-12-17
• 公開（公告）號: CN201122138Y
• 公開（公告）日: 2008-09-24
• 發明（設計）人: 梁倩;石勇;孫洪斌
• 申請（專利權）人: 中國鋁業股份有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01N23/223
• 代理公司: 中國有色金屬工業專利中心
• 代理人: 李迎春

技術領域：

一種壓制x-射線熒光分析測試樣片的樣品托，涉及用于x-射線熒光分析技術中難以壓制成型的固體物料樣片制備的樣品托。

背景技術

目前，x-射線熒光分析技術已經成為碳素、冶金、地質、食品、醫藥、鋼鐵等領域固體物料分析中主要的檢驗方法，特別是對疑難雜樣的半定量分析檢驗、判斷有獨特的優勢。在粉狀樣品分析檢驗過程中，需要將樣品壓制成片狀后，再進行測量。在測量成分分布不均勻的固體樣品時，通常也需要將樣固體樣品破碎成粉狀，再壓制成分布均勻品片，才能在X-射線熒光光譜儀儀器上進行檢驗。

傳統的制樣方法，是將測試樣品粉狀物料放入壓片模具內，再加入硼酸等等化學試劑，進行壓制；將測試樣品粉狀物料壓制成片，并在成片的測試樣片一形成環狀或倒扣的盒狀硼酸等化學試劑層；利用這種方法制得的樣品片經常會出現測試樣品樣片與硼酸等化學試劑層間偏心、跑料、花面現象，或使樣品的高度不夠，或硼酸等化學試劑層壞損現象，導致分析測量數據不準；由于樣片表面、外觀不合格，樣品的實際厚度沒有達到儀器分析的要求，會嚴重影響分析質量和分析結果的判定。

發明內容

本實用新型的目的就是針對上述已有技術存在的不足，提供一種能有效克服樣片偏心、跑料、花面現象，或使樣品的高度不夠，或硼酸等化學試劑層壞損現象，有效提高分析測量數據準確性的壓制x-射線熒光分析測試樣片的樣品托。

本實用新型的目的是通過以下技術方案實現的。

一種壓制x-射線熒光分析測試樣片的樣品托，其特征在于其樣品托的結構為外壁與壓片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品托。

本實用新型的一種壓制x-射線熒光分析測試樣片的樣品托，其特征在于所述的樣品托的壁厚度為0.2.-0.5mm。

本實用新型的盒狀樣品托可由價格低廉的易拉罐等廢鋁片壓制而成，代替了成本較高的化學試劑，由于化學試劑做的環厚度一般為1-1.5mm，而本實用新型的壓制而成的樣品片環面厚度只有0.2.-0.5mm，有效增大了測量面增大；其樣品托樣品托與壓片機的內筒大小一樣，不會發生跑料現象；且由于制樣方法的改進，也改變了測量面，由測量壓制樣品片下表面變成了測量壓制樣品片上表面。測量表面的變化，使得操作人員對壓制測量面的模具，更加容易清理，減少了壓制樣品片被污染的可能性，減少了測量的誤差，減少了樣片表面的花面、表面跑料、表面不均勻、提高樣片表面的光滑度、解決樣片高度不夠和內部不均勻、減少操作難度、降低分析成本、提高了分析速度。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖。

圖2為圖1的俯視圖。

具體實施方式

一種壓制x-射線熒光分析測試樣片的樣品托，其樣品托的結構為外壁與壓片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品托1，樣品托的壁厚度為0.2.-0.5mm。

實施例1

測試碳素樣品，先在壓片模具內放入與壓片模具內腔尺寸相配合的盒狀樣品托，再放入待測試樣品的粉狀物料進行模壓制片；由新的制樣方法制成的樣品片和普通方法制成的樣品片，經過比較，新的制樣方法制成的測試樣品厚度在4-5個毫米之間，可以保證X-射線熒光光譜儀的測量要求(4個毫米)；普通方法制成的樣品片厚度不均勻，厚度在3-4之間，不能保證在X-射線熒光光譜儀上測量要求。