[實用新型]基于格雷碼和線移條紋的結構光三維測量裝置無效
| 申請號： | 200720186308.5 | 申請日： | 2007-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN201181204Y | 公開（公告）日： | 2009-01-14 |
| 發明（設計）人： | 于曉洋;吳海濱 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱理工大學 |
| 主分類號： | G01B11/03 | 分類號： | G01B11/03 |
| 代理公司： | 哈爾濱東方專利事務所 | 代理人： | 陳曉光 |
| 地址： | 150040黑龍江省*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 格雷碼 條紋 結構 三維 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于格雷碼和線移條紋的結構光三維測量裝置，其組成包括：投射編碼圖案的DLP投射器，其特征是：所述的投射編碼圖案的DLP投射器通過電線與一個產生編碼圖案的計算機聯接，所述的一個產生編碼圖案的計算機通過電線與一組采集編碼圖像的數字攝像機聯接。
2.根據權利要求1所述的基于格雷碼和線移條紋的結構光三維測量裝置，其特征是：所述的DLP投射器與水平面成銳角，所述的與水平面成銳角的攝像機與被照射物體和所述的DLP投射器呈三角形位置。
3.根據權利要求1或2所述的基于格雷碼和線移條紋的結構光三維測量裝置，其特征是：所述的DLP投射器發出的光束范圍為45°，所述的攝像機發出的光束范圍為40°。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于哈爾濱理工大學，未經哈爾濱理工大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720186308.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
