[實(shí)用新型]轉(zhuǎn)接裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720183020.2 | 申請(qǐng)日: | 2007-10-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201096807Y | 公開(公告)日: | 2008-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陸煒;劉士豪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英業(yè)達(dá)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/02 | 分類號(hào): | G01R1/02;G01R31/3177;G06F11/25 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 戈泊 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 轉(zhuǎn)接 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種轉(zhuǎn)接技術(shù),更詳而言之,涉及一種可提供邏輯分析儀(Logic?Analyzer;LA)及除錯(cuò)卡(debug?card)同時(shí)與待測(cè)外部設(shè)備互連(Pedpherd?Component?Interconnect,PCI)總線電性連接并獲取其信號(hào)的轉(zhuǎn)接裝置。
背景技術(shù)
近年來(lái),國(guó)內(nèi)的電子業(yè)蓬勃發(fā)展,為了使得電子產(chǎn)品的可靠度提升,必須不斷地思考更好的測(cè)試方法,從而電子產(chǎn)品有更高的質(zhì)量。然而,服務(wù)器與個(gè)人電腦占了整個(gè)電子產(chǎn)品的大宗,為了使服務(wù)器與個(gè)人電腦的功能更強(qiáng)大,一般而言,主機(jī)板都有多個(gè)擴(kuò)充用的插槽,以方便使用者隨心所欲的插接一些功能性的適配卡,藉以增強(qiáng)服務(wù)器與個(gè)人電腦的功能。
舉例來(lái)說(shuō),外部設(shè)備互連接口為電腦系統(tǒng)中用來(lái)作為擴(kuò)充周邊元件的連接接口,由于PCI接口的總線傳輸速度較傳統(tǒng)ISA接口的總線快,因此,目前已廣泛應(yīng)用于主機(jī)板的外接擴(kuò)充接口。PCI插槽的規(guī)格具有120腳位,其中電源(PWR)及接地(GND)占有50個(gè)腳位,其余70腳位則用于信號(hào)傳輸。由于PCI適配卡屬于電腦系統(tǒng)周邊的重要配備,在研發(fā)或量產(chǎn)階段,都必須在電腦主機(jī)上作反復(fù)的信號(hào)測(cè)試,以確保其產(chǎn)品質(zhì)量。
傳統(tǒng)上,用于電腦測(cè)試的適配卡測(cè)試系統(tǒng)(例如為邏輯分析儀)需直接連接于電腦機(jī)殼內(nèi)的電腦主機(jī)板上以抓取PCI總線上的信號(hào)進(jìn)行分析,不僅操作不便且費(fèi)時(shí)。故于現(xiàn)有技術(shù)中,一般是額外提供有一排線二端焊設(shè)有符合PCI規(guī)格的連接件所組成的PCI轉(zhuǎn)接卡,該P(yáng)CI轉(zhuǎn)接卡的一端通過(guò)由PCI轉(zhuǎn)接卡引出多條導(dǎo)線并將其分別焊接至插置于PCI插槽的PCI適配卡上對(duì)應(yīng)的金手指(作為信號(hào)輸出端子),另一端則為一例如與上述各該導(dǎo)線電性連接的連接端口,以供電性連接至遠(yuǎn)程的邏輯分析儀,從而供其抓取PCI總線上的信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。
但是,上述現(xiàn)有技術(shù)卻隱含有許多缺陷:首先,因PCI轉(zhuǎn)接卡與PCI插槽的PCI適配卡的連接是采用導(dǎo)線對(duì)應(yīng)焊接的方式,因PCI插槽的腳位眾多,故所需導(dǎo)線數(shù)量眾多,導(dǎo)致整個(gè)焊接作業(yè)十分繁復(fù),且每一次測(cè)試時(shí)需要對(duì)測(cè)試的功能引腳進(jìn)行軟件配置,若進(jìn)行多次測(cè)試,不僅容易發(fā)生焊接順序的不一致,而且對(duì)需要測(cè)試的功能引腳進(jìn)行反復(fù)軟件配置亦可能產(chǎn)生錯(cuò)誤;更甚的是,于該現(xiàn)有技術(shù)中,于由該P(yáng)CI插槽只能引出一組測(cè)試線路,即于測(cè)試過(guò)程中只能提供一測(cè)試裝置例如邏輯分析儀電性連接至該P(yáng)CI插槽,而不能同時(shí)令其它測(cè)試裝置(例如Port?80/84的調(diào)試卡)亦電性連接至該P(yáng)CI插槽,嚴(yán)重限制其應(yīng)用,不能很好地充分利用各測(cè)試裝置進(jìn)行該P(yáng)CI插槽的測(cè)試。
因此,如何提供一種可供多個(gè)測(cè)試裝置同時(shí)電性連接的轉(zhuǎn)接裝置,藉以克服現(xiàn)有轉(zhuǎn)接設(shè)計(jì)中因只能提供一組連接線路導(dǎo)致測(cè)試不便且效果受影響的弊端,遂成為目前亟待解決的問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種轉(zhuǎn)接裝置,可提供邏輯分析儀(Logic?Analyzer;LA)及除錯(cuò)卡(debugcard)同時(shí)與待測(cè)PCI總線電性連接并獲取其信號(hào)。
本實(shí)用新型的另一目的在于提供一結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)接裝置。
為達(dá)到上述以及其它目的,本實(shí)用新型即提供一種轉(zhuǎn)接裝置,應(yīng)用于外部設(shè)備互連(Pedpherd?Component?Interconnect,PCI)總線的信號(hào)測(cè)試作業(yè)中,以提供邏輯分析儀(Logic?Analyzer;LA)以及除錯(cuò)卡(debug?card)同時(shí)通過(guò)該轉(zhuǎn)接裝置獲取該P(yáng)CI總線的信號(hào),其中該待測(cè)PCI總線上裝設(shè)有一具有多個(gè)信號(hào)輸出端子的PCI適配卡,該轉(zhuǎn)接裝置包括:多個(gè)信號(hào)輸入端子,分別與該P(yáng)CI適配卡的多個(gè)信號(hào)輸出端子對(duì)應(yīng)電性連接;以及多個(gè)信號(hào)輸出端,分別與所述信號(hào)輸入端子的其中一端子對(duì)應(yīng)電性連接,其中,每一信號(hào)輸出端中包括供電性連接該邏輯分析儀的信號(hào)輸出端子以及供電性連接該除錯(cuò)卡的信號(hào)輸出端子。
本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)接裝置復(fù)包括分別電性連接每一信號(hào)輸出端其中一信號(hào)輸出端子的二集線單元,且各該集線單元包括具有多個(gè)信號(hào)輸出端子且信號(hào)特性相同的輸出連接端口。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路





