[實(shí)用新型]測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720176531.1 | 申請(qǐng)日: | 2007-09-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201096852Y | 公開(公告)日: | 2008-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廖玠誠;林錦福;呂鳳木 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 力成科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 烤箱 組合 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試烤箱,特別是涉及一種適用于裝載多種尺寸或是長(zhǎng)尺寸載板的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
晶片封裝構(gòu)造于制造完成后,通常需要進(jìn)行預(yù)燒(burn-in)測(cè)試,以篩選出品質(zhì)不良的產(chǎn)品。預(yù)燒測(cè)試是指一種對(duì)晶片封裝構(gòu)造壽命的測(cè)試方法。在測(cè)試期間,多個(gè)晶片封裝構(gòu)造會(huì)被置于載板上,并將多個(gè)已裝載有晶片封裝構(gòu)造的載板置入測(cè)試烤箱中,再利用高溫、高壓或高濕度等方式將出廠后可靠度不佳的晶片封裝構(gòu)造預(yù)先偵測(cè)出且予以淘汰,以保證產(chǎn)品輸出的品質(zhì)。已知測(cè)試烤箱受限于內(nèi)容置空間,導(dǎo)致共用性甚差,一旦載板的尺寸改變或拉長(zhǎng),則必須重新添購另一規(guī)格的測(cè)試烤箱。
如圖1及圖2所示,已知的測(cè)試烤箱100主要包含一箱體110以及多個(gè)裝設(shè)于該箱體110的門板120。如圖2所示,該箱體110具有一加熱腔室111,用以加熱多個(gè)載板(圖中未繪出),該箱體110的內(nèi)壁形成有一載板容置空間101以供容置該些載板。其中該加熱腔室111內(nèi)設(shè)有預(yù)燒板橫置架112,其是用以放置該些載板。由于該些門板120直接接合在該箱體110,無法擴(kuò)展該測(cè)試烤箱100的可用深度D1(如圖2所示),因此該測(cè)試烤箱100的可用空間有限,所能裝載的載板的尺寸非常有限。如圖2所示,當(dāng)載板的尺寸變更導(dǎo)致其長(zhǎng)度大于該測(cè)試烤箱100的可用深度D1時(shí),該些門板120的內(nèi)壁會(huì)壓迫載板或無法關(guān)閉該門板120,甚至?xí)斐奢d板及/或置于載板上的晶片封裝構(gòu)造損傷。因此,該測(cè)試烤箱100無法適用于裝載各種不同尺寸規(guī)格的載板,故實(shí)用上效果并不佳。
由此可見,上述現(xiàn)有的測(cè)試烤箱在結(jié)構(gòu)與使用上,顯然仍存在有不便與缺陷,而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決測(cè)試烤箱存在的問題,相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道,但長(zhǎng)久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成,而一般產(chǎn)品又沒有適切的結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題,此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。
有鑒于上述現(xiàn)有的測(cè)試烤箱存在的缺陷,本設(shè)計(jì)人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí),并配合學(xué)理的運(yùn)用,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu),能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的測(cè)試烤箱,使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì),并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后,終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本實(shí)用新型。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于,克服現(xiàn)有的測(cè)試烤箱存在的缺陷,而提供一種新型結(jié)構(gòu)的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu),所要解決的技術(shù)問題是使其利用一組合式延伸結(jié)構(gòu)以形成深度增加的載板容置空間,增加測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)的可用空間,以供適用于多種尺寸的載板進(jìn)而增進(jìn)工作效率,另可避免門板的內(nèi)壁壓迫載板,從而更加適于實(shí)用。
本實(shí)用新型的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本實(shí)用新型提出的一種測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu),包含一箱體、一組合式延伸壁件以及至少一門板。該箱體具有一加熱腔室,用以容置并加熱多個(gè)載板,該加熱腔室的前端形成為一箱門開口。該組合式延伸壁件可模組化裝設(shè)于該箱門開口并具有一延伸開口。該門板可開關(guān)地裝設(shè)于該延伸開口。其中,由該加熱腔室、該組合式延伸壁件的內(nèi)壁與該門板的內(nèi)壁形成為一深度增加的載板容置空間。
本實(shí)用新型的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
在前述的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)中,該延伸開口的尺寸與組合方式可實(shí)質(zhì)與該箱門開口相同。
在前述的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)中,該組合式延伸壁件的該延伸開口可設(shè)有一卡栓裝置,用以固定關(guān)閉該門板。
在前述的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)中,該箱體可為一預(yù)燒測(cè)試爐,且該加熱腔室內(nèi)設(shè)有預(yù)燒板橫置架。
借由上述技術(shù)方案,本實(shí)用新型測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)至少具有下列優(yōu)點(diǎn):
本實(shí)用新型測(cè)試烤箱借由該組合式延伸壁件的設(shè)計(jì)與結(jié)合,增加了該測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)的可用深度,以增加載板容置空間,使該測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu)可適用于多種尺寸的載板。即使載板的長(zhǎng)度大于該箱體的該加熱腔室,亦不會(huì)有該門板壓觸至該些載板的問題產(chǎn)生。
綜上所述,本實(shí)用新型特殊結(jié)構(gòu)的測(cè)試烤箱的組合結(jié)構(gòu),其具有上述諸多的優(yōu)點(diǎn)及實(shí)用價(jià)值,并在同類產(chǎn)品中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)公開發(fā)表或使用而確屬創(chuàng)新,其不論在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或功能上皆有較大的改進(jìn),在技術(shù)上有較大的進(jìn)步,并產(chǎn)生了好用及實(shí)用的效果,且較現(xiàn)有的測(cè)試烤箱具有增進(jìn)的多項(xiàng)功效,從而更加適于實(shí)用。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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