[實用新型]一種智能卡測試設備有效
| 申請號: | 200720173418.8 | 申請日: | 2007-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN201170793Y | 公開(公告)日: | 2008-12-24 |
| 發明(設計)人: | 高寧;吳彩峰 | 申請(專利權)人: | 北京中電華大電子設計有限責任公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/28;G01R31/317;G01N19/04;G01N3/56 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 10001*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 智能卡 測試 設備 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種智能卡測試設備,特別是一種能夠同時檢查智能卡帶電老化壽命、金屬面耐磨強度兩個項目的測試設備。
背景技術
在智能卡測試領域,對智能卡的壽命測試,現在主要有以下幾種方法:
擦寫疲勞壽命,該方法是將智能卡插入讀卡器中,通過軟件控制對智能卡存儲單元進行全0、全1或其他方式的數據擦寫測試,一般要求循環次數為10萬次。
卡加電次數,該方法是將智能卡插入讀卡器中,通過軟件對智能卡進行反復上下電,一般要求循環次數為10萬次。
機械強度測試,該方法是通過點壓力(芯片面積小于4mm2)或三輪測試(芯片面積不小于4mm2)的方法考察智能卡的機械可靠性。
動態彎曲測試,實驗依據GB/T17554.1描述的方法進行測試,確定彎曲應力對智能卡的任何有害機械或功能上的影響。測試完成后,智能卡應保持其功能并應不出現開裂。
動態扭曲測試,實驗依據GB/T17554.1描述的方法進行測試,確定彎曲應力對智能卡的任何有害機械或功能上的影響。測試完成后,智能卡應保持其功能并應不出現開裂。
但是目前沒有一種設備,能夠實現同時對智能卡帶電老化壽命、金屬面耐磨強度兩個項目進行測試。
實用新型內容
本實用新型提供一種智能卡測試設備,用以實現同時對智能卡帶電老化壽命、金屬面耐磨強度兩個項目進行測試。為了實現上述測試設備,本實用新型設計一個直流電源系統,通過控制輸出電壓大小調節系統的機械運轉速度;設計一個特殊的機械運動結構,將電能轉化為運動動能,實現夾卡裝置做周期性平面直線運動;同時設計一個讀卡結構,實現在智能卡運動過程中,實時給智能卡供電控制智能卡管腳電氣特性狀態。
本實用新型包括:
直流電源系統;
將電能轉化為動能的機械運動結構;
夾卡裝置;
智能卡讀卡結構。
所述直流電源系統可以調節輸出電壓大小,直流電源系統輸出通過機械軸(2)與機械軸(3)相連接,通過調節直流電源系統的輸出以控制機械軸(3)的運轉速度,從而控制調節整個系統的機械運轉速度,使夾卡裝置做速度可調的周期性平面直線運動。
所述機械運動結構,實現了電能到動能的轉化;通過機械運動結構,也實現了運動方式的轉化,將機械軸(2)、機械軸(3)的機械圓周運動轉化為夾卡裝置的平面直線運動;整個測試系統為對稱型設計,通過對稱型機械運動結構,實現同時對2張智能卡進行測試,提高了測試效率。
如圖1所示,直流電源系統通過機械軸(2)帶動機械軸(3)和機械軸(4)轉動。由于機械軸(4)為偏心軸,即機械軸(4)的中心軸線和機械軸(2)、機械軸(3)的中心軸線不在一條直線上,從而機械軸(4)做偏心圓周轉動。如圖2所示,擺動裝置中有一導孔(7),通過機械軸(4)的偏心圓周轉動,機械軸(4)在導孔(7)中以導孔(7)內緣作偏心圓周運動,從而帶動擺動裝置實現以鉸鏈(5)為固定點的來回擺動運動,擺動裝置通過鉸鏈(8)帶動夾卡裝置以機械軸(9)為導軌作平面直線運動,從而帶動裝卡在夾卡裝置中的智能卡以機械軸(9)為導軌作平面直線運動,在智能卡的周期直線運動過程中實現了同時對智能卡帶電老化壽命與金屬面耐磨強度的測試,如圖3所示。
所述智能卡讀卡結構,內部包括讀卡器,用以控制智能卡管腳電氣特性狀態,實現在智能卡運動過程中,實時給智能卡供電控制智能卡管腳電氣特性狀態。
該實用新型工作原理:
本設備通過直流電源系統供電,機械運動結構將電能轉化為運動動能;通過機械運動結構,帶動夾卡裝置做周期性平面直線運動;同時讀卡結構實時給智能卡提供電源,從而實現同時實現對智能卡帶電老化壽命與金屬面耐磨強度的測試。
附圖說明
圖1為本實用新型的頂視圖
圖2為本實用新型的正視圖
圖3為本實用新型的側視圖
具體實施方式
下面通過具體測試實例對本實用新型智能卡測試設備進行詳細描述:
a)擰松螺鈕,將夾卡裝置上蓋打開,把待測試智能卡裝到夾卡裝置中,并將智能卡另一端插入讀卡器中,使得智能卡金屬觸點與讀卡器金屬觸點接觸,蓋上上蓋,鎖緊夾卡裝置上的螺鈕,使得夾卡裝置在做平面直線運動過程中上蓋和下蓋不發生相對移動;
b)打開直流電源系統的開關,給智能卡測試設備供電;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京中電華大電子設計有限責任公司,未經北京中電華大電子設計有限責任公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720173418.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:乳化液箱
- 下一篇:一種新型3相開關磁阻電動機調速裝置





