[實用新型]透射電鏡中一維納米材料測試載片

無效

• 申請號: 200720173277.X
• 申請日: 2007-09-21
• 公開（公告）號: CN201083670Y
• 公開（公告）日: 2008-07-09
• 發明（設計）人: 韓曉東;岳永海;張躍飛;張澤
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01N13/10
• 分類號: G01N13/10;G01N27/00;H01J37/26
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉萍

1.透射電鏡中一維納米材料測試載片，其特征在于，該載片包括中心金屬片(1)、兩個附耳(2)、狹縫(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狹縫(3)對稱分布的至少20個圓形柵孔(5)；

各部分的位置為：分布于中心金屬片(1)左右兩側且處于同一直徑上的兩個附耳(2)，包含附耳在內的整個金屬片的直徑在2.8-3mm之間；垂直于附耳(2)的直徑、沿中心金屬片(1)一側開口的狹縫(3)，該狹縫(3)寬度為2-50μm，長為1.2-1.5mm；位于與狹縫(3)同一直徑上且與狹縫(3)相對的、在中心金屬片的另一側開口的扇形燕尾槽(4)，所述的扇形燕尾槽缺口半徑為0.2-0.3mm，圓心角為30-45°；所述的圓形柵孔(5)直徑為50-120μm。

2.根據權利要求1所述的透射電鏡中一維納米材料測試載片，其特征在于，實現電學性能測量時，還包括在金屬片正面的狹縫兩側蒸鍍的絕緣層，絕緣層的厚度為0.05-0.3mm，在絕緣層上再蒸鍍電極，蒸鍍的電極厚度為0.05-0.3mm。