[實用新型]PCB板測試探頭

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200720170911.4
• 申請日: 2007-11-14
• 公開（公告）號: CN201116925Y
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發(fā)明（設計）人: 陳俊堂
• 申請（專利權）人: 深圳市凱碼軟件技術有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 深圳市中知專利商標代理有限公司
• 代理人: 張皋翔;楊林

技術領域

本實用新型涉及一種PCB板測試探頭。

背景技術

目前印制線路板測試用的測試探頭結構主要由長條PCB板、測試探針、大S型排針、小S型排針以及單排針組成；測試探針是凸型結構，首先將探針反插到長條PCB板孔中，再通過回流焊焊接，然后在長條PCB板背面用手工焊依次焊上兩排單排針、小S型排針、大S型排針，然后將焊成的半成品焊接到開關卡上。這種測試針中間手工焊的環(huán)節(jié)較多，廢品率一直比較高，生產(chǎn)成本相對比較高，并且受裝配工藝所限，密度只能達到間距1.27mm，所以只能測試普通密度PCB板，不能測試高密度PCB板。再者，現(xiàn)有的這種測試探頭需要多種不同規(guī)格的排針，也增加了生產(chǎn)成本。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種可測試高密度印制電路板的PCB板測試探頭。

為達到以上目的，這種PCB板測試探頭，其特征在于：包括上針座、下針座和固定于上針座和下針座中的測試針，其中測試針呈Z形，包括探針和測試頭兩部分，下針座設有供測試針的探針插置的縱向排列的第一通孔，上針座對應于下針座的每排通孔兩側設有數(shù)量與第一通孔相等的用于測試針的測試頭插置的第二通孔，且第二通孔對稱地設于相鄰兩個第一通孔的兩側。

第一通孔設于下針座上面開設的凹槽內，且下針座上相鄰兩排第一通孔間設有插槽。

插槽兩邊側壁設有起加強插接效果的凸起。

第二通孔設于上針座下面開設的凹槽內，且上針座下面對應于插槽設有凸臺。

本實用新型的技術效果在于：簡化PCB板測試探頭的結構，減少手工捍技術環(huán)節(jié)，提高成品率，而且測試針只需一種型號即可，減少了生產(chǎn)環(huán)節(jié)，節(jié)約成本，更重要的是，這種將測試頭設于兩側的結構可以有效于縮小探針的距離，可以達到測試高密度線路板的目的。

附圖說明

圖1是本實用新型的主視圖。

圖2是本實用新型的側視圖。

圖3是測試針主視圖。

圖4是下針座主視圖。

圖5是圖4的A-A向剖視圖。

圖6是上針座主視圖。

圖7是圖6的B-B向剖視圖。

圖8是本實用新型測試針位置示意圖。

具體實施方式

下面將結合附圖對本實用新型作進一步的說明：

如圖1、圖2所示，這種PCB板測試探頭包括上針座10、下針座20和固定于上針座10和下針座20中的測試針30；測試針30結構如圖3所示，呈Z形，包括探針31和測試頭32兩部分，探針31部分比較細，測試頭32部分相對比較粗，且其端面33為平面，利于充分接觸；再參見圖4、圖5，下針座20設有供探針31插置的縱向排列的第一通孔21，由圖可見，共有4排，第一通孔21設于下針座20上面開設的凹槽22內，且在下針座20上面相鄰兩排第一通孔21間設有插槽23，插槽兩邊側壁設有凸起24(見圖5)，可以加強插接強度；如圖6、圖7，上針座10對應于下針座20的每排通孔兩側設有數(shù)量與第一通孔21相等的用于測試頭32插置的第二通孔11，且第二通孔11對稱地設于相鄰兩個第一通孔21的兩側(相對位置參見圖8)，第二通孔11設于上針座10下面開設的凹槽12內，且上針座10下面對應于插槽23設有凸臺13，該凸臺13插接于下針座的凹槽23中。

裝配時，首先利用夾具將測試針的探針裝到下針座的第一通孔內，再將裝好的下針座用夾具裝到上針座的第二通孔內，再經(jīng)過超聲波焊工藝，使其上下針座結合的地方熔成一體，其中上下針座均為用塑膠模射模成型，插裝好的測試針位置關于如圖8所示，所用的測試針為同一標準型號。

以上內容是結合具體的優(yōu)選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，其架構形式能夠靈活多變，可以派生系列產(chǎn)品。只是做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本實用新型由所提交的權利要求書確定的專利保護范圍。