[實用新型]一種透射電鏡中納米線原位拉伸下力電性能測試裝置

無效

• 申請號: 200720169809.2
• 申請日: 2007-07-20
• 公開（公告）號: CN201066335Y
• 公開（公告）日: 2008-05-28
• 發明（設計）人: 韓曉東;鄭坤;張澤
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01N13/10
• 分類號: G01N13/10;G01N3/00;G01N27/00
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉萍

1.一種透射電鏡中納米線原位拉伸下力電性能測試裝置，其特征在于：將壓電陶瓷片(2)放置于透射電鏡樣品桿的密封管(1)內，一端固定，壓電陶瓷片(2)的固定端外接兩根驅動導線(19)，驅動導線(19)的另一端外接與驅動電源(20)，壓電陶瓷片(2)的另一端與放置于承載底座(4)的溝槽內的連動桿(5)相接，連動桿(5)的另一端與集成塊(6)內的金屬滑塊(13)相接，承載底座(4)一端接于透射電鏡樣品桿的密封管(1)，承載底座(4)的另一端接于集成塊(6)；

所述集成塊(6)的構造如下所述：長方體外殼(7)的開口端與承載底座(4)相接，其中長方體外殼(7)的頂部與底部均不封口，第一絕緣墊片(8)與第二絕緣墊片(9)水平放置于長方體外殼(7)內并與之相固定，其中第一絕緣墊片(8)與第二絕緣墊片(9)的中間保留一條30-50微米的縫隙，并使縫隙與長方體外殼(7)的開口端平行，第一絕緣墊片(8)放在靠近長方體外殼(7)的開口端，第二絕緣墊片(9)放在靠近長方體外殼(7)的封閉端，在第一絕緣墊片(8)之上平行固定一鍍金屬硅片(10)，通過刻蝕法在金屬硅片(10)靠近第二絕緣墊片(9)的一側刻一條懸臂梁(11)，并且使懸梁臂(11)也平行于長方體外殼(7)的開口端，在第二絕緣墊片(9)之上垂直于懸梁臂(11)的方向上固定一滑軌(12)，在滑軌(12)之上安裝金屬滑塊(13)，將懸臂梁(11)與金屬滑塊(13)的上表面設置在同一水平面上，懸臂梁(11)與金屬滑塊(13)之間的縫隙寬度可通過微調旋鈕(15)調整金屬滑塊(13)來改變，微調旋鈕(15)安裝在與長方體外殼(7)開口端相對的封閉端上。

2.根據權利要求1所述的一種透射電鏡中納米線原位拉伸下力電性能測試裝置，其特征在于：還包括電學測量系統(16)，該電學測量系統(16)通過兩根加載導線(17)，兩根信號導線(18)與集成塊(6)相連接，加載導線(17)的一端與電學測量系統的控制電源相接，加載導線(17)的另一端分別與懸臂梁(11)和金屬滑塊(13)相接；信號導線(18)一端與電學測量系統的場發生測試儀器相接，信號導線(18)的另一端也分別與懸臂梁(11)和金屬滑塊(13)相接。

3.根據權利要求2所述的一種透射電鏡中納米線原位拉伸下力電性能測試裝置，其特征在于：所述的電學測量系統包括控制電源，電流，電壓，電阻，電容，場發生測試儀器。